Gebraucht LEO / ZEISS 1530 #9293309 zu verkaufen

LEO/ZEISS 1530 ist ein vielseitiges und leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop (SEM). Dieses Modell eignet sich für eine Vielzahl von Anwendungen, einschließlich biologischer, materialwissenschaftlicher, nanotechnologischer und Halbleiterforschung. Seine Kernkomponente ist ein In-Linsen-Sekundärelektron (SE) -Detektor, der Bilder mit außergewöhnlicher Fokustiefe, Auflösung, Kontrast und Probenempfindlichkeit liefert. Die Detektoranordnung ermöglicht auch die Sammlung von rückgestreuten Elektronen (BEs) mittels eines hyperbolischen oder mehrfachen Niederwinkeldetektors. LEO 1530 verwendet eine Kaltfeld-Elektronenlinse (CFEL) für verbesserte Leistung und Zuverlässigkeit. Es verfügt über eine maximale Beschleunigungsspannung von 30 kV und eine Spotgröße von 1,5 nm. Die Kombination aus CFEL-System und In-Linsen-SE-Detektor ermöglicht einen deutlich erhöhten Strahlstrom und einen verbesserten rückgestreuten Elektronenbildkontrast. Das Mikroskop ist mit einer umfassenden und einfach zu bedienenden grafischen Benutzeroberfläche programmiert, mit der Anwender das Mikroskop intuitiv steuern und Ergebnisse analysieren können. ZEISS 1530 ist äußerst vielseitig einsetzbar, da es mit einer Vielzahl von Probenhaltern und -stufen kompatibel ist. Es ist in der Lage, kleine und empfindliche Proben aufzunehmen, einschließlich Einzelzellen, Flüssigkeiten und Proben, die besondere Umgebungsbedingungen wie niedrige Temperaturen und/oder Druck erfordern. Darüber hinaus ist das Instrument mit mehreren automatisierten Stufen ausgestattet, die es Anwendern ermöglichen, interessante Bereiche bei hoher Vergrößerung neu zu bewerten. 1530 bietet auch eine Reihe von Funktionen und Optionen, die eine Vielzahl von Forschungsanwendungen ansprechen werden. Es ist mit einem röntgenenergiedispersiven Spektrometer für die Elementaranalyse und einem fensterlosen Detektor ausgestattet, der Bilder höherer Auflösung liefert. Es bietet auch High-Speed-Bildgebung, Live-Sample-Manipulation und Überwachung und Mustererkennung Software. Abschließend ist LEO/ZEISS 1530 ein fortschrittliches und zuverlässiges SEM, das Details bis in den nanometrischen Maßstab auflösen kann. Es ist für Anwender konzipiert, die von Einstiegsforschern bis zu erfahrenen Wissenschaftlern reichen, und seine umfassende Palette von Funktionen verleiht es mit großer Vielseitigkeit.