Gebraucht LEO / ZEISS 1530VP #9383711 zu verkaufen

ID: 9383711
Scanning Electron Microscope (SEM).
LEO/ZEISS 1530VP ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das fortschrittliche Technologie und außergewöhnliche Leistung kombiniert, um dem Benutzer leistungsstarke Bildgebungsfunktionen zu bieten. Es verfügt über eine Hochvakuumumgebung, um eine möglichst hohe Auflösung und ein außergewöhnlich großes Sichtfeld von etwa 200mm zu gewährleisten. Das überlegene SEM-Design von LEO 1530VP schafft einen hervorragenden Bildkontrast und Details, und die leistungsstarken Steuerungen ermöglichen eine einfache Bedienung und Anpassung. Die Hochvakuumumgebung von ZEISS 1530VP gewährleistet eine möglichst hohe Auflösung und sorgt für eine verbesserte Auflösung sowohl bei Vergrößerungs- als auch bei Analysefunktionen. Die Hauptkammer ist aus einer kompakten Edelstahl-Vakuumkammer aufgebaut und mit einem Reservoir ausgestattet, das mit flüssigem Stickstoff gefüllt werden kann, um ein Hochvakuum zu erzeugen, das die Auswirkungen des Einflusses der Atmosphäre auf den Elektronenstrahl stark reduziert. Dieses verbesserte Vakuum trägt zur Maximierung der bildgebenden Fähigkeiten des SEM bei. 1530VP verfügt auch über eine automatisierte Probenhandhabungseinrichtung zur Weiterentwicklung und Fokussierung von Proben, wodurch manuelle Manipulationen entfallen. Das Probenhandhabungssystem verwendet einen Satz von vier Schrittmotoren, die die Probe während der Bildgebung/Messung genau bewegen und in Position halten. Die Motoreinheit verfügt außerdem über einen dreiachsigen Regler, der eine präzise Probenpositionierung ermöglicht und sich für jede Probenverzerrung einstellen kann. Der Hellfelddetektor ermöglicht den Nachweis von Sekundärelektronen, die von der Probe emittiert wurden. Dieser Detektor befindet sich innerhalb der Kammer von LEO/ZEISS 1530VP und bietet eine ausgezeichnete Abbildung der Probe, während die Hintergrundinterferenz minimal bleibt. Die integrierte Betrachtungsmaschine ermöglicht es Benutzern, Echtzeit-Bildgebung durchzuführen und bietet auch einen Seite-an-Seite-Bildvergleich. Die erweiterten Funktionen von LEO 1530VP es zu einem der leistungsfähigsten SEMs machen. Durch die Kombination überlegener Vakuumtechnologie mit hochentwickelten Bildgebungs- und Analysefunktionen ist ZEISS 1530VP ein ideales Werkzeug für Forschung und industrielle Anwendungen. Damit können kleinste Exemplare und Objekte untersucht und Forschern und Fachleuten detaillierte Einblicke in komplexe Materialien und Prozesse ermöglicht werden.
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