Gebraucht LEO / ZEISS 1550 #293636318 zu verkaufen

LEO/ZEISS 1550 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein vielseitiges Instrument mit fortschrittlicher Technologie für die Bildgebung und Analyse. Die Elektronensäule von LEO 1550 SEM ist mit einer Schottky-Elektronenkanone, einer Feldemissionskanone (FEG) und einer Wolfram-Verbundspitzenansicht ausgestattet. Es enthält auch eine Hochvakuum-Ausrüstung, um den Elektronenstrahl unter Ultrahochvakuum bei Betriebsdrücken von 10-8 Pa. zu halten. Dies gewährleistet die höchste Signalausbeute und optimale Bildauflösung. Das optische System der ZEISS 1550 SEM umfasst ein hochauflösendes Rasterübertragungselektronenmikroskop (S/TEM), einen sekundären und einen Rückstreuelektronendetektor (BSD), einen geladenen Teilchendetektor und einen Röntgendetektor. Der S/TEM-Modus bietet eine große Schärfentiefe, die es ermöglicht, Materialien bei höheren Vergrößerungen abzubilden. Neben der Bildgebung kann die Einheit auch zur Analyse von Probenelementen mittels energiedispersiver Röntgenspektroskopie (EDX) oder wellenlängendispersiver Röntgenspektroskopie (WDX) verwendet werden, die qualitative und quantitative Ergebnisse liefert. 1550 SEM ermöglicht es Benutzern, eine Vielzahl von bildgebenden und analytischen Aufgaben auszuführen. Mit der Maschine kann die Oberflächentopographie bei hohen Vergrößerungen, Submikronmerkmalen und sogar nanoskaligen Analysen untersucht werden. Es bietet auch dreidimensionale Analyse von Strukturen und Schnittstellen, einen 3D-digitalen tomographischen Ansatz für nanoskalige Materialien und die gleichzeitige Abbildung von chemischer Zusammensetzung und Bildkontrast - so können Benutzer verschiedene Elemente in einer Probe leicht identifizieren und ihre Verteilung genau analysieren. LEO/ZEISS 1550 SEM bietet auch erweiterte Hardwareunterstützungsoptionen, einschließlich großer Arbeitskammertemperatur, einstellbarer Tischhöhenbildgebung, automatisierter Abbildung großer Proben, motorisierter und programmierbarer Traverse und großer Probenladefunktionen für die automatisierte Abbildung von großen Stückzahlen identischer Stücke. LEO 1550 SEM umfasst sogar Workflow-Automatisierungsfunktionen und Software-Support-Optionen, so dass Benutzer auf große Datenmengen mit einer effizienten und intuitiven Benutzeroberfläche zugreifen und diese verwalten können. Um eine optimale Bildgebungsleistung und -genauigkeit zu gewährleisten, verfügt das SEM über ein vollautomatisches Tool zur Merkmalserkennung (AFR), ein Element zur Erkennung von Bildgebungseffekten und ein Modell zur Spannungsanalyse. Insgesamt bietet das Rasterelektronenmikroskop ZEISS 1550 umfassende bildgebende und analytische Funktionen für eine Vielzahl von Anwendungen. Dies macht es zu einer idealen Ausrüstung für Forschung und Entwicklung, Qualitätskontrolle und Fehleranalyse.