Gebraucht LEO / ZEISS 1560 #9069353 zu verkaufen

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ID: 9069353
FE Scanning electron microscope, (SEM) 2003 vintage.
LEO/ZEISS 1560 Rasterelektronenmikroskop (SEM) bietet qualitativ hochwertige Bildgebung einer Vielzahl von Proben, so dass es ideal für Forschung und industrielle Anwendungen. Es wird von einer patentierten In-Column Field Emission Gun (FEG) angetrieben und verfügt über einen leistungsstarken hochauflösenden Detektor, der Bilder von bis zu 72 Megapixeln aufnehmen kann. Das System wurde entwickelt, um eine große Schärfentiefe und hervorragende Signal-Rausch-Verhältnisse bereitzustellen, so dass Forscher ultrafeine Mikrostrukturen in einer Vielzahl von Materialien mit hoher Vergrößerung untersuchen können. LEO 1560 SEM ist mit einer Vielzahl von Funktionen ausgestattet, einschließlich einer einzigartigen Auto-Fokus-Funktion, die es Benutzern ermöglicht, sich leicht auf eine Region von Interesse für eine sehr detaillierte Analyse zu konzentrieren. Darüber hinaus ist das SEM in der Lage, Elektronen aus einer Vielzahl von Winkeln zu detektieren und bietet dynamische Abbildungsfähigkeiten. Dies ermöglicht eine großflächige Abbildung kleiner Merkmale und Strukturen, was bedeutet, dass das Mikroskop verwendet werden kann, um komplexe 3D-Analysen durchzuführen, die sonst zeitaufwendig und schwer mit anderen Mikroskopen zu erreichen wären. Das SEM verfügt auch über einen leistungsstarken Low Vacuum Mode, der verwendet werden kann, um Live-Proben ohne die Notwendigkeit einer Vakuumkammer zu beobachten, so dass es ideal für die Betrachtung von biologischen Proben und Proben in ihrer nativen Umgebung. Darüber hinaus bietet das SEM eine unschlagbare Sammlung fortschrittlicher Mikroskopautomatisierungstools, die dazu beitragen, die Abhängigkeit des Bedieners von manuellen Datenerfassungstechniken zu reduzieren. Beispielsweise kann das Mikroskop automatisch mehrere Aufgaben ausführen, wie Beispielscannen, Bühnenbewegung und Bildverarbeitung. Schließlich kommt das SEM auch mit der einzigartigen Fähigkeit, ein Lichtblech für die direkte Beobachtung einer Probe zu produzieren, um den Kontrast und die Auflösung in den endgültigen Bildergebnissen zu maximieren. ZEISS 1560 ist ein leistungsstarkes SEM, das eine hochauflösende Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Proben bietet und somit für eine breite Palette von Forschungs- und Industrieanwendungen geeignet ist. Es ist mit einer Vielzahl von Funktionen ausgestattet, um die Bildgebung und Analyse einfacher und schneller zu machen, und bietet unschlagbare Ebenen der Automatisierung und Bedienung.
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