Gebraucht LEO / ZEISS 1560 #9272757 zu verkaufen

LEO/ZEISS 1560 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein vielseitiges und zuverlässiges Werkzeug, das es Anwendern ermöglicht, Proben mit hohen Vergrößerungen von bis zu 250.000x zu beobachten und zu analysieren. Es ist ein Hochleistungs-Niederspannungs-SEM, das über ein On-Axis-System mit ausgezeichneter Schärfentiefe und Auflösung verfügt und somit für viele Forscher und Techniker das Werkzeug der Wahl ist. LEO 1560 SEM verfügt über eine Schottky Feldemissionskanone, die eine moderne Lösung für Elektronenoptik und verbesserte Signal-Rausch-Verhältnisse bietet. Es hat eine variable Spotgröße von 0,2 bis 10 µm2 für hochauflösende Bildgebung und Analyse. Dieses SEM bietet auch einen multisegmentierten Everhard-Thornley Sekundärelektronendetektor zur genauen Elementaranalyse. Darüber hinaus verfügt ZEISS 1560 über eine integrierte Kammer zur Sputterbeschichtung, und die Pistole kann mit einem 2mm-Rückstreudetektor ausgestattet werden, so dass sie eine Vielzahl von Bild- und Detektormodi ausführen kann. Für die Bildgebung kann 1560 SEM verschiedene Techniken verwenden, um Probenoberflächen und -merkmale zu erforschen. Dazu gehören sekundäre Elektronenbildgebung, Phasenkontrastbildgebung, Rückstreuelektronenbildgebung, manuelle und automatisierte Kippbildgebung, Stigmatisierung und Dunkelfeldbildgebung sowie energiedispersive Röntgenbilddarstellung. Darüber hinaus ermöglicht die Präzision dieses SEM die 3D-Bildgebung mit topographischen, Linienprofilen, Partikelanalyse und automatisierten Oberflächenmessungen. LEO/ZEISS 1560 SEM bietet zudem eine erhöhte Flexibilität für das Experimentdesign. Es verfügt über einen digitalen Joystick, der eine manuelle Probennavigation beim Beobachten von Live-SEM-Bildern ermöglicht. Zusätzlich kann eine optionale Scanstufe hinzugefügt werden, die ein automatisiertes Scannen und Aufzeichnen in mehreren Modi ermöglicht. Es ermöglicht auch verschiedene Neigungswinkel, so dass es perfekt für Querschnittsuntersuchungen. Schließlich bietet LEO 1560 SEM eine benutzerfreundliche Steueroberfläche mit mehreren Betriebsmerkmalen und Fähigkeiten. Es ist mit einem Autofokus-Programm, einer voreingestellten Bibliothek mit mehreren Parametern, einem Winkelmesssystem und einem automatisierten Wiederherstellungssystem ausgestattet. Dadurch wird sichergestellt, dass das SEM im Betrieb sicher und zuverlässig bleiben kann. Alle diese Funktionen machen ZEISS 1560 SEM zu einem unschätzbaren Werkzeug, um detaillierte und genaue Bilder und Daten für eine Reihe von Forschungs- und Industriebedürfnissen zu erhalten.