Gebraucht LEO / ZEISS 430i #9407378 zu verkaufen

LÖWE / ZEISS 430i Scanning Electron Microscope (SEM) ist eine hohe Leistung, Doppelbalken FIB/SEM Bildaufbereitung der Ausrüstung. LEO 430i SEM kombiniert branchenführende Auflösung und die Fähigkeit, nanoskalige Strukturen abzubilden und zu manipulieren. Es zeigt eine High-Definition-Säule, um Fähigkeiten unten zu einer Entschlossenheit von 1 Nanometer und seiner fortgeschrittenen Hochleistungskathode/Anode darzustellen, die Doppelbalkensystem Mehrweisenoperation wegen der fortgeschrittenen Charakterisierung und Manipulation von sehr kleinen Gegenständen ermöglicht. Die SEM-Säule wurde entwickelt, um die hochauflösende Bildgebung zu erleichtern und gleichzeitig die Flexibilität zu bieten, die für die Arbeit mit einer Vielzahl von Probengrößen und -typen erforderlich ist. ZEISS 430i ist mit einem Sekundärelektronendetektor (SE), einem Rückstreuelektronendetektor (BSE) und einem chemischen Analysedetektor mit einer Feldemissionskanone ausgestattet, die eine schnelle Bildgebung ermöglicht. Im Lieferumfang ist eine Gaseinspritzeinheit (GIS) enthalten, die bei Bedarf die Einführung funktioneller Gase während der Bildgebung und Manipulation ermöglicht. Der Multi-Mode-Betrieb von 430i wird durch seine Variable Pressure/Low Vacuum (VP/LV) Konfiguration ermöglicht. Dies ermöglicht eine erweiterte Charakterisierung von schwer zu bildenden Materialien, bei denen die Umgebung manipuliert werden kann, um eine hochauflösende Bildgebung zu ermöglichen. Der LV-Modus bietet eine niederenergetische Umgebung für die Abbildung von Partikeln, langsam drainierenden Filmen oder Filmen mit dickeren Querschnitten, die eine größere Elektronendosis im höheren Vakuum erfordern würden. LEO/ZEISS 430i verfügt über eine 360-Grad-Drehstufe und eine 6-Achsen-Probenstufe mit In-Plan- und Out-of-Plane-Manipulation, die eine einfache Abbildung und Manipulation bestimmter interessanter Bereiche ermöglicht. Darüber hinaus verfügt es über eine Vielzahl von Steuerungsmodi wie Autofokus, automatische Stigmation und automatische Belichtung, wodurch Benutzer die vollständige Kontrolle über die bildgebende Umgebung erhalten. LEO 430i kann mit einer Vielzahl von automatisierten Musterhandhabungssystemen für noch mehr Flexibilität integriert werden. Zusammenfassend ist LEO 430iScanning Electron Microscope eine leistungsstarke, zweistrahlige FIB/SEM-Bildgebungsmaschine, die eine hochauflösende Bildgebung und Manipulation von nanoskaligen Objekten ermöglicht. Sein ausgeklügeltes Säulen- und GIS-Tool ermöglicht die Manipulation der bildgebenden Umgebung für eine Vielzahl von Materialien, während seine Steuerungsmodi und automatisierten Probenhandhabungssysteme den Anwendern die für jede analytische Anwendung erforderliche Flexibilität bieten.