Gebraucht LEO / ZEISS 435VP #293651569 zu verkaufen

LEO/ZEISS 435VP ist ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop (SEM) für fortschrittliche und analytische Leistung. Dieses hochmoderne Instrument ist mit einer Vielzahl von Merkmalen ausgestattet, wie einer hochauflösenden, feldemittierenden Sub-Nanometer-Elektronenquelle, einem rückgestreuten Elektronendetektor und einem Sekundärelektronendetektor sowie einer hochvergrößerten Doppelstrahlausrüstung. Es ist ideal für Forschungsanwendungen mit anspruchsvollen Proben wie Halbleiterscheiben, Dünnschichten und biologischen Proben. LEO 435VP ist in der Lage, sehr detaillierte Bilder mit hervorragendem Kontrast zu liefern, so dass Benutzer die Mikro- und Nanoskala-Merkmale eines Objekts identifizieren und visualisieren können. Es verfügt über ein hochmodernes modulares Design mit einer Reihe von leicht austauschbaren Zubehörteilen und Detektoren, mit denen Benutzer ihr Instrument an ihre spezifischen Bedürfnisse anpassen können. Für eine überlegene Probenhaltung verfügt ZEISS 435VP auch über eine Niedervakuumkammer, die hilft, einen niedrigen, stabilen Druck aufrechtzuerhalten und gleichzeitig starke Luftströme zu vermeiden und Oxidation zu verhindern. Dies in Kombination mit seinen fortschrittlichen bildgebenden Fähigkeiten macht 435VP zu einem idealen Instrument für die analytische Forschung. Neben der bildgebenden Leistung verfügt LEO/ZEISS 435VP auch über eine Reihe automatisierter Software-Tools für einfache Bedienung und Analyse. Dazu gehören ein Semi-Automated Image Optimization System (SAIOS), eine Real-Time Image Acquisition Unit (RTAIS) und ein Dual-Beam Machine Autopilot (DBSA). SAIOS ermöglicht es Benutzern, schnell mehrere Parameter wie Helligkeit und Kontrast anzupassen, um die Bildqualität zu maximieren. RTAIS bietet Echtzeit-Feedback zu den Parametern des SEM, so dass Benutzer sofortige Anpassungen an ihrem Bildgebungstool vornehmen können. DBSA optimiert die Dual-Beam-Bildgebungsparameter, um die beste Gesamtleistung zu erzielen. Insgesamt ist LEO 435VP ein fortschrittliches und funktionelles Rasterelektronenmikroskop, ideal für Forschungsanwendungen, die eine hochwertige Bildgebungsleistung und anpassbare Erkennungsoptionen erfordern. Der modulare Aufbau, automatisierte Software-Tools und spezialisierte Probenaufbewahrungsfunktionen machen es zu einem leistungsstarken und zuverlässigen wissenschaftlichen Instrument.