Gebraucht LEO / ZEISS 435VP #9255854 zu verkaufen

Das LEO/ZEISS 435VP Rasterelektronenmikroskop ist ein Hochleistungsinstrument, das hervorragende bildgebende Funktionen und analytische Leistung bietet. Es eignet sich besonders gut für die Bildgebung und Analyse der nanoskaligen Strukturauflösung. Dieses Mikroskop verwendet eine Feldemissionselektronenquelle, die eine verbesserte Elektronenhelligkeit, höhere Transmissionswerte und signifikante Spaltenlebensdauer bietet. Dadurch bietet das Mikroskop bei hohen Sondenstromwerten eine beeindruckende Auflösung von bis zu 10 nm. Die Probe kann auf einen Probenhaltereinsatz aufgesetzt werden, der eine Probenmanipulation ermöglicht. Die Orientierung während der Analyse erfolgt durch eine automatisierte 6-Achsen-motorisierte Stufe und komplizierte Bewegungen können mit hochauflösender Piezobewegung erreicht werden. Die Stufe ist in der Lage, die Probe sowohl in einer linearen als auch in einer Rotation um die vertikale Achse, Horzontalachse oder eine dritte Achse zu bewegen, die durch die normale Richtung definiert ist. Benutzer des Systems können eine Vielzahl von Detektoren verwenden, um Bilder zu erfassen. Der transmittierte Elektronendetektor kann sowohl in den rückgestreuten als auch in den Sekundärelektronen Bilder erfassen, um einen Kontrast sowohl von der Oberfläche als auch vom Volumen der Probe zu erzielen. Rückgestreute Elektronen können auch mit einem Sekundärelektronendetektor beobachtet werden. Ergänzt werden diese Merkmale durch MINT-Detektoren für die Hell- oder Dunkelfeldbildgebung oder eine Kombination aus beidem. Das Mikroskop ist ferner mit einem automatisierten digitalen Bildgebungssystem und automatischen Ausrichtungsmöglichkeiten ausgestattet. Dies erleichtert die bildgebende Dokumentation mit der mitgelieferten integrierten Kamera und die Erstellung von Montagefilmschleifen. Das System verfügt auch über eine einstellbare Scangeschwindigkeit von bis zu 500 Hz, wodurch der Benutzer die Möglichkeit hat, die optische mikroskopische Strukturauflösung zu simulieren. Für analytische Fähigkeiten verwendet das Mikroskop ein Energy Dispersive Röntgenspektrometer (EDS) für die Elementaranalyse, mit dem der Benutzer die chemische Zusammensetzung oder Dicke verschiedener Merkmale auf der Probe identifizieren kann. Die Kombination der kontrastreichen Bildgebung und fortschrittlichen Fähigkeiten des LEO 435VP Rasterelektronenmikroskops macht es zu einem unschätzbaren Werkzeug für nanoskalige Forschung und Analyse.