Gebraucht LEO / ZEISS EM 910 #293657006 zu verkaufen

LEO/ZEISS EM 910 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für eine effiziente und zuverlässige Bildgebung im Nanobereich entwickelt wurde. Seine Strahlabtasttechnologie erzeugt hochauflösende Bilder und bietet Visualisierungen der Oberflächenschicht auf der Probe für eine detaillierte Analyse. LEO EM 910 ist ein analytisches Werkzeug, das sowohl sekundäre als auch rückgestreute Elektronenbilder sammeln kann. Seine hohe elektronenoptische Auflösung ermöglicht eine präzise Abbildung von Mikrostrukturen bis zu 1 nm. Das SEM ist auch in der Lage, kontrastreiche Bilder von organischen und anorganischen Materialien mit minimaler Erzeugung von nicht signifikanten Sekundärelektronen zu erzeugen. Das SEM bietet eine breite Palette von automatisierten Bildgebungsfunktionen, einschließlich einer automatisierten Bildaufnahme, ohne manuelle Anpassung von Mikroskopparametern. Diese halbautomatische Bildaufnahmefähigkeit gewährleistet einen effizienteren und präziseren Betrieb und ermöglicht wiederholbare Ergebnisse mit Leichtigkeit. In Bezug auf seine physikalischen Spezifikationen bietet ZEISS EM 910 eine Probenkammer, die auf die Bedürfnisse einer Vielzahl von Proben wie Metalle, Halbleiter und Polymere ausgelegt ist. Die Kammer ist durch ein externes Abschirmgassystem geschützt, das den Strahl wirksam abschirmt, um die Streuung zu reduzieren und die Abbildungsleistung zu verbessern. Zusätzlich wird der Strahlstrom kontinuierlich überwacht, um Probenschäden und Überhitzungen zu vermeiden. EM 910 ist auch für den umweltfreundlichen Betrieb mit geringem Stromverbrauch konzipiert. Das Werkzeug ist mit einer Vielzahl von erweiterten Filtereinstellungen ausgestattet, um die Elektronenstrahlenergie weiter zu reduzieren. Dies hilft, mögliche Probenschäden zu minimieren und das Risiko einer Strahlenbelastung oder chemischen Freisetzung der Probe während des Betriebs zu verringern. Schließlich bietet LEO/ZEISS EM 910 eine benutzerfreundliche Oberfläche für eine komfortable und intuitive Bedienung. Beispielsweise ermöglicht die grafische Benutzeroberfläche (GUI) eine einfache Navigation der Werkzeugmenüs und Funktionen. Darüber hinaus enthält das SEM Befehle zur Steuerung einer Vielzahl von Parametern, um den Mikroskopbetrieb vollständig nach Benutzerspezifikationen anzupassen. Zusammenfassend ist LEO EM 910 ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das eine hohe analytische Leistung und einen problemlosen Betrieb bietet.