Gebraucht LEO / ZEISS EVO 50 XVP #9314220 zu verkaufen

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ID: 9314220
Weinlese: 2003
Scanning Electron Microscope (SEM) Filament: Tungsten Acceleration voltage: 0.2 - 30 kV Magnification: 7x - 300000x (Can be higher) XVP Pressure range: 5 - 750 Pa with air X-Ray analysis: 8.5 mm AWD and 35° take-off angle Oven programmed up to 1000°C FISON Gold coater Detectors: NORAN EDX SE in HV: Everhart-Thornley SE in XVP: VPSE BSD Low vacuum SE and BSE Opti beam modes: Resolution Depth Analysis Large field 5-Axes motorized specimen stage: X: 80 mm Y: 80 mm Z: 35 mm T: 0 - 90° R: 360° Continuous Image processing resolution: Up to 3072 x 2304 pixel Rotary pump Turbo pump Operating system: Windows XP Power supply: 100-240 V, Single phase, 50/60 Hz 2003 vintage.
LEO/ZEISS EVO 50 XVP ist ein vielseitiges Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit einem optimierten Design für Leistung und Produktivität. Es bietet ein optimiertes Scanfeld, eine verbesserte Auflösung und eine konkurrenzlose Vielseitigkeit. Dieses Rasterelektronenmikroskop verfügt über erweiterte analytische Fähigkeiten mit Attributen wie Sekundär- und Rückstreudetektoren und energiedispersiver Röntgenspektroskopie (EDS). Die EDX-Option ermöglicht die Erkennung und Quantifizierung von Spurenelementen in Proben und bietet eine hochauflösende elementare Mapping-Fähigkeit zur Visualisierung und Analyse auf einer tieferen Detailebene. LEO EVO 50 XVP ist ein Umgebungs-Rasterelektronenmikroskop. Es bietet eine fortschrittliche Forschungsumgebung mit Funktionen wie variable Druckregelung und von hohen bis extrem niedrigen Vakuumbedingungen, die eine überlegene Bildgebung und Probenanalyse bieten. Es hat ein hohes Hydrogeschwindigkeitsmusterautomationssystem, das genaue Manipulation und Übertragung von Proben vom Lastschloss in den Hauptraum berücksichtigt. Das Mikroskop bietet Sub-Nanometer-Auflösung und eine breite Palette von Bildgebung und Analyse. Es ist besonders nützlich in Anwendungen wie Fehleranalyse, Materialforschung und medizinische Diagnostik. Die hochauflösende farbige CCD-Kamera ermöglicht Live-oder aufgezeichnete Bilder mit verschiedenen Vergrößerungen, so dass Benutzer Prozesse in-situ genau überwachen können. ZEISS EVO 50 XVP kann in einer Vielzahl von Einstellungen verwendet werden und bietet Benutzern mehrere Abbildungsmodi wie Hellfeld, Dunkelfeld, differentiellen Interferenzkontrast und hochauflösende rückgestreute Elektronenbilder. Darüber hinaus bietet es Niedervakuumbetrieb ermöglicht die Untersuchung von kleineren Proben ohne die Notwendigkeit der Probenvorbereitung. Das Mikroskop bietet auch eine breite Palette von Probenhaltern für eine Vielzahl von Anwendungen, einschließlich Flüssigkeitszellen, Stufen für PC-Boards Inspektion und kryogene Stufen. Mit seiner fortschrittlichen Hochleistungsoptik bietet EVO 50 XVP eine hohe Bildqualität. Insgesamt ist LEO/ZEISS EVO 50 XVP ein fortschrittliches, zuverlässiges und vielseitiges Rasterelektronenmikroskop. Es bietet eine ausgezeichnete Bildauflösung, mehrere Analysefunktionen und eine automatisierte Probenabwicklung, was es zu einem idealen Werkzeug für Wissenschaftler-Explorationen in einer Vielzahl von wissenschaftlichen und Forschungsbereichen macht.
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