Gebraucht LEO / ZEISS Supra 40P #293644038 zu verkaufen
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ID: 293644038
Scanning Electron Microscope (SEM)
Water cooling system:
Coolant flow rate: 1.3 l/min
Coolant temperature: 20°C
Compressed air pressure: 8 bar
Gas pressure: 3500 mbar
Damping / Anti-vibration system
Gauges
Column chamber valve
Turbo isolation valve
Vacuum:
Specimen chamber vacuum pressure: 1.03E^-6 mbar
UHV Chamber vacuum pressure: 2.2E^-10 mbar
Scroll pump
Turbo pump
Control panel / Dual joystick
Touch alarm
Stage drift
InLens Detector
SE Detector
4QBS Detector
VPSE Detector
CCD Camera
Cathode head
FE Cathode
Filament heating and extractor currents:
Filament age: 18051.84 Hours
Extractor voltage at 0.2 mA/sr: 4.3 V
Total current at 0.2 mA/sr: 394 µA
Extractor current at 10 kV: 389 µA
Specimen current: 190 µA
Beam shift:
Standard shift: ±7.5 µm
Width: 8.5 mm
Acceleration voltage: 20 kV
Scan rotation: 360°C
Dynamic focus and tilt angle correction
Beam blanking
PC
Operating system: Windows XP.
LEO/ZEISS Supra 40P ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) für Forschung und industrielle Anwendungen. Es kombiniert bemerkenswerte Vielseitigkeit, bequeme Funktionen und fortschrittliche Technologie, um eine scharfe Bildgebung, eine hohe uniformierte Oberflächenauflösung und zuverlässige Ergebnisse zu erzielen. LEO Supra 40P bietet eine Reihe von Funktionen für die 2D- und 3D-Bildgebung mit einer „Zero-Dimple“ -Feldemissionspistole und einem 30 W Everhart-Thornley SE-Detektor. Es verfügt über einen fortschrittlichen Energiefilter, der mit einem motorisierten Aufzugssystem und digitalen Steuerungen betrieben wird. Das System ist mit einem ergonomischen Probengrößenbereich und einer neuen titanbeschichteten Säule für maximale Stabilität ausgelegt. ZEISS Supra 40P weist mit fortschrittlicher digitaler Filtertechnologie eine beeindruckende Auflösung von bis zu 1,6 nm auf. Diese softwareintegrierte Funktion verbessert die Fähigkeit des Mikroskops, feinste Details auf der Probenoberfläche mit Genauigkeit und Klarheit abzubilden. Ein neuer Energiefilter ermöglicht es dem Anwender, aus 12 verschiedenen Elementen auszuwählen und die softwareintegrierte Bildgebung verarbeitet die Signale der Elektronenkanone, um ein optimal konsistentes Bildfeld zu gewährleisten. Der fortschrittliche Everhart-Thornley Sekundärelektronendetektor bietet eine detaillierte 3D-Abbildung von Strukturen im Nanometermaßstab. Dieser Detektor arbeitet auch mit dem Energiefilter zur Simulation von Hellfeldbildern zusammen und ermöglicht es Benutzern, selbst dunkelste Materialien zu durchschauen. Dies senkt auch das Risiko von bildgebenden Artefakten und reduziert den Bedarf an kostspieliger Probenvorbereitung. Supra 40P umfasst auch mehrere andere automatisierte Funktionen, darunter ein schwingungsarmes Probenhandhabungssystem, eine Remote-Bildverarbeitung und sogar einen robusten Manipulator. Seine beeindruckende Abbildungskapazität und seine umfassenden Eigenschaften machen es ideal für eine Vielzahl von Anwendungen. Es ist zuverlässig, effizient und liefert konsistente Ergebnisse.
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