Gebraucht LEO / ZEISS Supra 40VP #293636806 zu verkaufen

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ID: 293636806
Scanning Electron Microscope (SEM) Schottky Field Emission EDAX Everhart-Thornley (Hi-Vacuum) Secondary electron detector OXFORD Electron diffraction Resolution: 1 nm at 20 keV Backscatter detector: 4-Quadrant Variable Pressure Secondary Electron Detector Oil-free rotary pump Turbo (2) Ion getters OXFORD X-Max 80 mm2 SDD EDS EBSD Oxford/Nordlys HKL 9-Pin Wafer section Multipurpose variable clamp Thin section 1" Metallurgical holder HASKRIS Air-cooled Gas requirements: Nitrogen, Compressed air Operating system: Windows 7 Power requirements: 220V.
LEO/ZEISS Supra 40VP ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für die ultrahochauflösende Abbildung einer Vielzahl von Proben entwickelt wurde. Es verfügt über eine variable Drucksäule mit einem Arbeitsabstand von bis zu 14 mm und einer Everfab-Quelle von 120 cm ². Die Philips X 'Pert Pro-Plattform ist eine leistungsstarke und zuverlässige Plattform, die die Mikrostruktur von Objekten bei Vergrößerungen von bis zu 200.000x untersuchen kann. LEO Supra 40VP ist mit mehreren Komponenten ausgestattet, die zu seiner überlegenen Auflösung und Bildklarheit bei hohen Vergrößerungen beitragen. Eine seiner wichtigsten Komponenten ist die Everfab Source, die mit einem gammakorrigierten Elektronenstrahl und einem multisegmentierten CCD-Detektor ausgestattet ist. Diese Kombination aus fortschrittlicher Optik ermöglicht eine Probenauflösung von besser als 0,6 nm. Ein weiterer wichtiger Bestandteil der Ausrüstung ist das EDAX Genesis Spektrometer, mit dem die Zusammensetzung der Proben erkannt und analysiert werden kann, ohne sie zu beschädigen. Neben seinen außergewöhnlichen Bildgebungsfunktionen verfügt der Supra 40VP auch über eine Reihe von Funktionen, die seine Verwendung erleichtern. Dazu gehören eine patentierte Rauschunterdrückungstechnik, eine intuitive Touchscreen-Oberfläche sowie automatisierte Ausrichtungs-, Kalibrierungs- und Referenzierungsprozesse. Das System bietet auch leistungsstarke Bildgebungs- und Analysewerkzeuge wie Elektronen-Backscatter-Beugung (EBSD) und Energiedispersive Spektrometrie (EDS). EBSD ermöglicht die Identifizierung und Analyse kristalliner Phasen in Proben und EDS bietet eine qualitative und quantitative Zusammensetzungsanalyse aller Elemente im Periodensystem. ZEISS Supra 40VP ist zudem mit einer automatischen Probenvorbereitungseinheit ausgestattet, die aus einem automatisierten Vakuumverdampfer und einem automatisierten Sputtercoater besteht. Diese Maschine ermöglicht es Benutzern, gleichmäßig Proben für die Bildgebung und Analyse vorzubereiten. Insgesamt ist Supra 40VP ein vielseitiges und leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop, das speziell für die hochauflösende Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Proben entwickelt wurde. Seine hochwertigen Komponenten und automatisierten Prozesse ermöglichen es Anwendern, Proben schnell und präzise mit beispiellosen Details zu analysieren.
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