Gebraucht LEO / ZEISS Supra 55 #293699912 zu verkaufen

LEO/ZEISS Supra 55 ist ein modernes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für seine außergewöhnlichen bildgebenden Fähigkeiten, seine vielseitige Funktionalität und seine benutzerfreundliche Oberfläche bekannt ist. Entwickelt durch die Zusammenarbeit von LEO Electron Microscopy und ZEISS, ist dieses fortschrittliche Instrument entwickelt, um hochauflösende Bildgebung für eine breite Palette von Anwendungen in der Materialwissenschaft, Nanotechnologie, Life Sciences und darüber hinaus zu liefern. Herzstück von LEO Supra 55 ist seine innovative Elektronensäule, die einen energiereichen Elektronenstrahl erzeugt, der mit der Probenoberfläche interagiert und eine detaillierte Bildgebung und Analyse bei einer Auflösung im Nanometermaßstab ermöglicht. Ausgestattet mit einer Feldemissionskanone (FEG) bietet das SEM eine hervorragende Helligkeit und Stabilität und ermöglicht die Visualisierung feiner Oberflächendetails und Strukturen mit außergewöhnlicher Klarheit. Das Instrument verfügt über ein vielseitiges Kammerdesign, das eine Vielzahl von Proben aufnimmt, von leitfähigen Materialien bis hin zu nichtleitfähigen Proben, die eine Beschichtung mit einer dünnen leitfähigen Schicht erfordern können, um die bildgebende Qualität zu verbessern. Die Kammer ist mit einer motorisierten Bühne ausgestattet, die eine präzise Probenpositionierung und einfache Navigation ermöglicht und eine effiziente Datenerfassung und -analyse gewährleistet. ZEISS Supra 55 ist mit mehreren Abbildungsmodi und Detektoren ausgestattet, darunter Sekundärelektron (SE), Rückstreuelektron (BSE) und energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS) -Detektoren, die eine umfassende Probencharakterisierung und Elementaranalyse ermöglichen. Der SE-Detektor ist ideal für die hochauflösende Abbildung von Oberflächentopographie und Morphologie, während der BSE-Detektor Kontrast basierend auf der Ordnungszahl der Elemente in der Probe liefert. Neben bildgebenden Funktionen bietet das SEM erweiterte analytische Funktionen, einschließlich EDS für die elementare Abbildung und chemische Zusammensetzungsanalyse. Das EDS-System ist in das Instrument integriert und ermöglicht eine nahtlose Datenerfassung und -analyse direkt innerhalb der SEM-Software. Dieses Merkmal ist besonders wertvoll, um die elementare Verteilung innerhalb einer Probe zu untersuchen und spezifische chemische Zusammensetzungen zu identifizieren. Supra 55 ist mit einer intuitiven Benutzeroberfläche und fortschrittlicher Software ausgestattet, die die Bedienung und Datenanalyse optimiert. Die benutzerfreundliche Oberfläche ermöglicht die einfache Navigation von Instrumenteneinstellungen, Bildverarbeitungsmodi und Analysewerkzeugen und macht sie sowohl für Anfänger als auch für erfahrene Forscher zugänglich. Die Software umfasst auch erweiterte Bildverarbeitungs- und Analysetools, mit denen Benutzer quantitative Daten aus SEM-Bildern extrahieren und detaillierte Berichte erstellen können. Darüber hinaus ist das SEM auf eine höhere Produktivität und Effizienz ausgelegt, mit Funktionen wie automatisierten Bildgebungsroutinen, Mehrfachproben-Bildgebungsfunktionen und Remote-Bedienungsoptionen. Diese Funktionen ermöglichen es Benutzern, den Workflow zu optimieren, die Instrumentennutzung zu maximieren und effektiv mit Kollegen an verschiedenen Standorten zusammenzuarbeiten. Insgesamt kombiniert LEO/ZEISS Supra 55 SEM modernste Bildgebungstechnologie, vielseitige Funktionalität und benutzerfreundliches Design, um Forschern die Werkzeuge zur Verfügung zu stellen, die sie benötigen, um eine breite Palette von Proben auf der Nanoskala zu erforschen und zu analysieren. Ob Materialeigenschaften studieren, biologische Proben untersuchen oder Elementaranalysen durchführen - dieses fortschrittliche Instrument bietet unübertroffene Leistung und Vielseitigkeit für ein vielfältiges Spektrum wissenschaftlicher Anwendungen.