Gebraucht LEO / ZEISS Supra #293831981 zu verkaufen

LEO/ZEISS Supra ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das gemeinsam vom renommierten wissenschaftlichen Instrumentenunternehmen LEO und dem führenden Elektronenmikroskopieunternehmen ZEISS entwickelt und hergestellt wurde. Dieses fortschrittliche Bildgebungssystem ist mit modernster Technologie und Funktionen ausgestattet, die eine detaillierte und präzise Abbildung von Nanostrukturen und Materialien auf nanoskaliger Ebene ermöglichen. Hauptmerkmale und Spezifikationen: LEO Supra SEM wird mit einer Feldemissionskanone (FEG) Elektronenquelle gebaut, die einen hochkohärenten und hellen Elektronenstrahl für eine überlegene Bildauflösung liefert. Die FEG-Quelle ermöglicht auch ein schnelles Umschalten zwischen bildgebenden Modi und erhöht die Gesamtstabilität und Leistung des Mikroskops. Das Mikroskop verfügt über eine vielseitige Elektronenoptik-Säule, die die Manipulation von Strahleinstellungen wie Strahlenergie, Strahlstrom und Strahlfokus ermöglicht und Benutzern die Flexibilität bietet, die bildgebenden Bedingungen für verschiedene Probentypen und Anwendungen zu optimieren. ZEISS Supra ist mit einer hochpräzisen Probenstufe ausgestattet, die eine präzise Positionierung und Manipulation von Proben während der Bildgebung und Analyse ermöglicht. Die Stufe kann in mehreren Achsen gesteuert werden und ist mit verschiedenen Probenhaltern und Zubehör für unterschiedliche experimentelle Bedürfnisse kompatibel. Eines der herausragenden Merkmale von Supra sind seine fortschrittlichen bildgebenden Detektoren, einschließlich sekundärer Elektronendetektoren (SE), rückgestreuter Elektronendetektoren (BSE) und energiedispersiver Röntgenspektroskopie (EDS) -Detektoren. Diese Detektoren ermöglichen die Sammlung verschiedener Signale von der Probenoberfläche und liefern wertvolle Informationen über Probenzusammensetzung, Topographie und kristallographische Struktur. Das SEM ist mit einer ausgeklügelten Steuerungs- und Bildgebungssoftware ausgestattet, die es Anwendern ermöglicht, die Mikroskopfunktionen einfach zu navigieren und zu steuern, Bildgebungsparameter anzupassen, Bilder und Daten zu erfassen und erweiterte Bildverarbeitungs- und Analyseaufgaben durchzuführen. Die Software unterstützt zudem Automatisierungsfunktionen für effiziente Datenerfassungs- und Analyseabläufe. Anwendungen und Vorteile: LEO/ZEISS Supra SEM ist weit verbreitet in verschiedenen wissenschaftlichen und industriellen Anwendungen, einschließlich Materialwissenschaft, Nanotechnologie, Halbleiterforschung, biologische Bildgebung und Fehleranalyse. Es eignet sich besonders gut zur Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Proben, darunter Metalle, Polymere, Keramiken, Verbundwerkstoffe, biologische Gewebe und Nanopartikel. Die hochauflösenden bildgebenden Fähigkeiten von LEO Supra machen es zu einem unschätzbaren Werkzeug zur Untersuchung von Nanostrukturen, Oberflächenmorphologien und Materialeigenschaften auf nanoskaliger Ebene. Forscher und Wissenschaftler können mit dem SEM Merkmale wie Korngrenzen, Kristalldefekte, Oberflächenrauhigkeit und Partikelverteilungen mit außergewöhnlicher Detailtreue und Klarheit untersuchen. Das fortschrittliche EDS-System des Mikroskops ermöglicht eine qualitative und quantitative Elementaranalyse von Proben und liefert wertvolle Einblicke in Probenzusammensetzung, Elementarverteilung und chemische Bindung. Diese Informationen können entscheidend sein, um Materialeigenschaften zu verstehen, Verunreinigungen zu identifizieren, Beschichtungen zu charakterisieren und chemische Reaktionen auf Nanoebene zu untersuchen. Neben Bildgebungs- und Analysefähigkeiten bietet ZEISS Supra SEM Funktionen für fortschrittliche Mikroskopietechniken wie Elektronenstrahllithographie, Elektronenbeugung und Kathodolumineszenzbildgebung. Diese Techniken erweitern die Fähigkeiten des Mikroskops weiter und ermöglichen eine umfassendere und detailliertere Charakterisierung der Proben. Insgesamt kombiniert das Supra-Rasterelektronenmikroskop modernste Technologie, leistungsstarke bildgebende Funktionen und benutzerfreundliche Bedienung, um Forschern und Wissenschaftlern ein leistungsfähiges Werkzeug zur Erkundung der Nanowelt und zur Weiterentwicklung von Wissen in verschiedenen Bereichen der Wissenschaft und Technologie zur Verfügung zu stellen.