Gebraucht NGR 3520 #9313577 zu verkaufen

NGR 3520 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das speziell für die Abbildung von Probenoberflächen vom Mikron bis zum Nanometerspiegel entwickelt wurde. Es ist mit einer 20kV Schottky Feldemissionselektronenquelle, einem orthogonalen Probenhalter und einem volldigitalen Abbildungssystem für hochpräzisen, hochauflösenden Betrieb ausgestattet. Die Elektronenkanone von 3520 ist eine Punktquelle, die in der Nähe der Mitte des Lampengehäuses angeordnet ist. Dies gewährleistet hohe Ausbeuten an Elektronen mit hoher Energie und sehr kurzen Abständen zwischen der Pistole und der zu scannenden Probe. Das Sichtfeld beträgt ca. 5-20mm, während der gesamte Arbeitsabstand zwischen der Pistole und der Probe bis zu 10mm einstellbar ist, um verschiedene Probengrößen und -formen aufzunehmen. Dies ermöglicht eine Vielzahl von Vergrößerungs- und Betriebsbedingungen. Die objektive Linse des NGR 3520 ist ein sich neigender hoher Winkel Schottky Feldemissionskondensator. Dieses Design ermöglicht eine breite Palette von Arbeitsabstand, um verschiedene Probengrößen und Formen unterzubringen. Der eingebaute Probenhalter ermöglicht eine präzise Probennavigation und Positionierung mit einer Genauigkeit von 5 Bogensekunden in alle Richtungen. Das Abbildungssystem von 3520 besteht aus einer Austastpistole und einem Elektronen-Lateral-Deflektor sowie einem frequenzverdoppelnden Detektionssystem. Die Austastkanone steuert den Elektronenstrahl so, dass er präzise und genau fokussiert werden kann, und der laterale Deflektor kompensiert jede Verzerrung oder Drift des Elektronenflecks im Bildweg. Daraus ergibt sich ein klares und scharfes Bild, das sowohl für die Oberflächenanalyse als auch für die Bildgebung geeignet ist. Bei Verwendung von NGR 3520 können Proben sowohl in SEM als auch in rückgestreuter Elektronenbildgebung in hoher Auflösung analysiert werden. Dies ermöglicht eine genaue Abbildung der Oberflächenmerkmale und der Zusammensetzungsinformationen der Probe. Zusätzlich kann mit Hilfe der Elektronenquelle die Sekundärelektronenproduktion zur Visualisierung der Oberflächentopographie angeregt werden. Für die Charakterisierung von Proben, die für äußere Faktoren wie Feuchtigkeit und Gas empfindlich sind, stehen in 3520 kontrollierbare Umgebungsbedingungen zur Verfügung. Dieses Instrument ist auch in der Lage, Tieftemperaturuntersuchungen durchzuführen, die eine hochauflösende Abbildung bei Temperaturen bis -172 ° C ermöglichen. Zusammenfassend ist NGR 3520 ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop, das hochauflösende Bilder, präzise Probennavigation, einstellbaren Arbeitsabstand und Umweltkontrollfunktionen bietet. Es eignet sich für eine Vielzahl von Forschungsanwendungen, die eine detaillierte oder quantitative Analyse von Oberflächenmerkmalen und Zusammensetzung auf Makro- und Mikroskalen erfordern.