Gebraucht OKOS VUE 400 #9236888 zu verkaufen

OKOS VUE 400 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) von OKOS Instruments. Dieses leistungsstarke System ist für den Einsatz in einer Vielzahl von bildgebenden Rollen und Anwendungen konzipiert, von der biologischen bis zur Materialwissenschaft. Das Gerät verwendet eine polarisierte Lichtquelle, um eine Probenoberfläche zu beleuchten, wodurch Probenmerkmale in zwei Dimensionen untersucht werden können. Das Mikroskop ist mit einer Elektronenkanone ausgestattet, die die Oberfläche des Probenmaterials abtastet und ein hochauflösendes Bild erzeugt. VUE 400 verfügt auch über einen digitalen Bildprozessor, der die Bildgebungsleistung beschleunigt und Rauschen im aufgenommenen Bild filtert. OKOS VUE 400 verfügt über mehrere fortschrittliche Funktionen, die es Forschern ermöglichen, hochgenaue und detaillierte Bildgebung und Messungen durchzuführen. Insbesondere bietet das großflächige Sichtfeld in Verbindung mit der hohen Schärfentiefe eine höhere Bildklarheit und -tiefe im Vergleich zu herkömmlichen Rasterelektronenmikroskopen. Das Gerät verfügt außerdem über einen digitalen Signalprozessor und bietet eine Vielzahl von Umgebungsbedingungen, um die Abbildung verschiedener Probentypen zu ermöglichen. Darüber hinaus verfügt das Mikroskop über eine Vielzahl von Detektionslinsen und Generationsmodi, damit Forscher eine Vielzahl von Materialien in verschiedenen Auflösungen untersuchen können. Diese Funktionalität wird auch mit Workflow-Tools erweitert, mit denen Benutzer die Analyse von Proben verbessern können, einschließlich der Analyse der Partikelgröße und der Oberflächenrekonstruktion. Das Mikroskop verfügt auch über automatisierte Einstellungen für Umwelt- und Bildgebungsparameter, was den Bildaufnahmevorgang weiter vereinfacht. VUE 400 ist ein leistungsstarkes Gerät, das genaue und detaillierte Bilder und Daten an Forscher in einer Vielzahl von Branchen liefern verspricht. Mit seinem ausgeklügelten Design und seiner fortschrittlichen Technologie ist dieses Gerät in der Lage, Wissenschaftlern zu helfen, Materialien und Objekte mit beispiellosen Details zu untersuchen.