Gebraucht OKOS VUE 400 #9266141 zu verkaufen

OKOS VUE 400 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das umfassende, hochauflösende Bildgebungsfunktionen bietet. Es umfasst einen ultrahochauflösenden Detektor mit einer Reihe von Vergrößerungen bis zu 600 kV und eine leistungsstarke Software-Suite für Bildanalyse und Simulationen. Die bildgebenden Fähigkeiten des VUE 400 ermöglichen eine Vielzahl von Anwendungen, von der Materialcharakterisierung über die Oberflächeninspektion bis hin zur 3D-Bildgebung und Nanofabrikation. OKOS VUE 400 enthält eine In-Column-Feldemissionskanone und einen hochauflösenden einachsigen Ablenkscanner. Diese Kombination bietet hervorragende Bildgebungsfähigkeit und Auflösung und macht VUE 400 ideal für die tägliche Bildgebung sowie hochauflösende Aufgaben wie 3D-Rekonstruktionen und Materialanalysen. Die Feldemissionskanone erzeugt fokussierte Elektronenstrahlen, die dünne Materialproben wie Polymere und Keramikfolien durchdringen können. Die keramische Vakuumisolierung und die hermetische Abdichtung der Säule sorgen für überlegene Bildstabilität und Zuverlässigkeit. OKOS VUE 400 verfügt über einen großen 12,1-Zoll-LCD-Monitor für einfache Bedienung und Anzeige, zusammen mit einem effizienten automatisierten Höhenmechanismus, der eine effiziente Bildgebung unter Wahrung der Probenintegrität ermöglicht. Die benutzerfreundliche Software-Suite bietet eine Reihe von Bildverarbeitungsanwendungen sowie eine Messbibliothek für automatisierte Analysen und Reporting. Darüber hinaus steht ein Atomkraftmikroskop (AFM) -Modul zur Verfügung, mit dem Benutzer nanoskalige Merkmale einer Probe erkunden können. VUE 400 wurde entwickelt, um sowohl in situ- als auch ex situ-Beispielumgebungen unterzubringen. Diese Fähigkeit, sich von einem zum anderen zu verschieben, bietet flexible experimentelle Möglichkeiten. Zum Beispiel kann es für in situ Beobachtungen von feinen Strukturen in organischen Systemen und für ex situ Beobachtungen von Nanostrukturen verwendet werden. Schließlich ist OKOS VUE 400 mit einer offenen Architektur gebaut, die Kompatibilität mit verschiedenen Mikroskopzubehör ermöglicht. Seine leistungsfähige Software und Hardware eröffnet eine Welt der Forschungsmöglichkeiten, von der Bildgebung bis zur Strukturanalyse, 3D-Rekonstruktionen und mehr.