Gebraucht OKOS VUE 400 #9282777 zu verkaufen

OKOS VUE 400 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) von OKOS Technologies. Dieses Gerät ist für Forschungs- und industrielle Analyseanwendungen konzipiert und in der Lage, hochauflösende Bilder für die Untersuchung von Objekten auf Submikron-Ebene bereitzustellen. VUE 400 ist mit einer hochempfindlichen Sekundär- und Backscater-Elektronenbildquelle ausgestattet, die eine optimale Bildgebungsleistung ermöglicht. Es wird mit einer Lichtquelle für fortgeschrittenere Anwendungen wie verschiedene Arten der optischen Bildgebung, einschließlich Kathodolumineszenz, Photolumineszenz und Reflexionsspektroskopie verbessert. OKOS VUE 400 ist auch mit einer fokussierten Ionenstrahlsäule (FIB) ausgestattet, die detaillierte Oberflächenstudien von Materialien und einen dynamischen Winkeldetektor für eine präzise Winkelauflösung ermöglicht. Dieses bildgebende System umfasst auch eine automatisierte Probenstufe, mit der verschiedene Objekte in einer Vielzahl von Orientierungen abgebildet werden können. VUE 400 verfügt über eine breite Palette von Funktionen, die es dem Benutzer ermöglichen, hochauflösende Bilder verschiedener Objekte zu erhalten. Diese Funktionen umfassen eine automatisierte Objektausrichtung, eine automatisierte Z-Achsen-Abtasteinheit und eine variable Spotgröße zur präzisen Steuerung der Abbildungsparameter. Es ist auch mit einer sehr langlebigen mechanischen Struktur für langfristige Zuverlässigkeit und Leistung konzipiert, mit mehreren benutzerfreundlichen Funktionen wie Sprachsteuerung und Joystick-Navigation. Diese Maschine enthält auch mehrere Sicherheitsmerkmale wie Elektronenschutz, manuelle Verriegelung und einen Notabschalter. OKOS VUE 400 ist ein leistungsfähiges, zuverlässiges Bildgebungswerkzeug, das in der Lage ist, die Details von Objekten auf Nanoskala genau zu erfassen. Seine vielseitigen und überlegenen bildgebenden Fähigkeiten machen es zu einem Werkzeug der Wahl für viele Forscher und Wirtschaftsingenieure, die nach hochauflösenden bildgebenden Anwendungen suchen.