Gebraucht PARK SYSTEMS XE-300 #9221612 zu verkaufen

PARK SYSTEMS XE-300 ist ein modernes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das erweiterte Möglichkeiten bietet, hochauflösende Bilder von nanoskaligen Strukturen mit einer Auflösung von bis zu 0,75 nm zu erfassen. XE-300 verwendet ein Everhardt-Thornley Variable Pressure System (VPS), um eine optimierte Probenkammersteuerung für den Betrieb sowohl im Hochvakuum als auch im Niedervakuum-Modus bereitzustellen. PARK SYSTEMS XE-300 verwendet ein modernes Säulendesign mit einer zweistufigen Pistole, bestehend aus einer In-Objektiv-Pistole und einer Wolfram-Filament-Elektronenpistole. Diese Doppelkanonen ermöglichen es XE-300, auch unter hohen Vergrößerungen ultrahochauflösende Bilder aufzunehmen. Zusätzlich ermöglicht die In-Objektiv-Pistole eine schnellere Bildgebungsgeschwindigkeit bis zu 3200x Linienrate. PARK SYSTEMS XE-300 verwendet auch ein optimiertes Cs-Korrektursystem, um sphärische Aberrationen zu reduzieren und den Bildkontrast zu maximieren. XE-300 bietet auch eine breite Palette von analytischen Fähigkeiten zur Charakterisierung von Nanomaterialien. Mit dem Energy Dispersive Röntgenspektrometer (EDS) können Anwender Elementaranalysen durchführen und die Materialzusammensetzung identifizieren. Darüber hinaus verfügt PARK SYSTEMS XE-300 über ein Röntgenschneckenspektrometer (XAES) und ein Wellenlängen-Dispersives Röntgenspektrometer (WDS), mit denen die chemische Zusammensetzung von Materialien gemessen werden kann. Mit der optionalen Electron Backscatter Diffraction (EBSD) Einheit können Anwender auch kristallographische Messungen durchführen und kristalline Struktur analysieren. XE-300 bietet eine Reihe von Funktionen, die es Anwendern ermöglichen, die Bildgebungs- und Analyseprozesse genau zu steuern und zu automatisieren. Dies beinhaltet eine intuitive Benutzeroberfläche für die schnelle Einrichtung, einen Sechs-Eingangs-Probenhalter für die Umkehrmontage von Proben und eine fortschrittliche Bewegungssteuerung für präzises Scannen. Mit der PC-gesteuerten Detektoroptik können Benutzer die Detektorpräsenz im SEM-Bild steuern und so mehr Bildklarheit und Kontrast bieten. Insgesamt ist PARK SYSTEMS XE-300 ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das sich perfekt für die Aufnahme ultrahochauflösender Bilder von nanoskaligen Strukturen eignet. Mit einer Vielzahl von analytischen Fähigkeiten und fortschrittlichen Automatisierungsfunktionen bietet XE-300 eine unübertroffene Fähigkeit zur Untersuchung von Nanomaterialien.