Gebraucht PARK SYSTEMS XE-70 #9225309 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 9225309
Atomic Force Microscope (AFM)
XY Scanner:
Single-module flexure with closed-loop control
UV LED Head has been replaced
Computer with (2) monitors
Controller
Light source
Scan range:
100 μm x 100 μm
50 μm x 50 μm
10 μm x 10 μm
Manual stage:
XY Travel range: 13 x 13 mm
Z Travel range: 29.5 mm
Focus travel range: 70 mm
Z Scanner range:
Guided high-force Z scanner
Scan range: 12 µm, 15 µm
Sample mount:
Sample size: Up to 100 mm
Thickness: Up to 20 mm
Direct on-axis vision of sample surface and cantilever
Coupled with 10x objective lens
Field-of-view: 480 x 360 µm
CCD: Mpixel
Electronics:
DSP: 600 MHz with 4800 MIPS
Maximum 16 data images
Maximum data size: 4096 x 4096 Pixels
Signal inputs: 20 Channels of 16 bit ADC at 500 kHz samplings
Signal outputs: 21 Channels of 16 bit DAC at 500 kHz settling
Synchronous signal:
End-of-image
End-of-line
End-of-pixel TTL signals
Includes:
ACOUSTIC Enclosure
MINUS K TECHNOLOGIES Platform
Power: 120 W
CE Marked.
PARK SYSTEMS XE-70 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM), das auf die Bedürfnisse von Forschern in verschiedenen Bereichen wie Nanotechnologie und Materialwissenschaft zugeschnitten ist. XE-70 bietet einzigartige dynamische Bildgebungsfunktionen und ist damit eine ideale Wahl für hochauflösende Bildgebung, Oberflächencharakterisierung und dreidimensionale Analyse. PARK SYSTEMS XE-70 verfügt über eine große, hochempfindliche 12-Megapixel-Digitalkamera und einen breitbandigen Energiedetektor zur Aufnahme von Bildern mit Auflösungen bis zu 1 Nanometer. Seine Hochspannungselektronenquelle ist in der Lage, Strahlen von 0,5 bis 100keV zu erzeugen und bietet eine breite Palette von analytischen Techniken, einschließlich Elektronen-Rückstreuung Beugung, sekundäre Elektronenbildgebung und Röntgenmikroanalyse. XE-70 bietet auch eine breite Palette von Probenstufen für die Aufnahme von vielen verschiedenen Größen und Formen von Proben. PARK SYSTEMS XE-70 verfügt über eine Reihe von Verbesserungen, die es zu einer idealen Wahl für anspruchsvolle Forschung machen. Sein Umweltkontrollsystem hält stabile Vakuumspiegel während des Betriebs und minimiert Störungen durch Umgebungsvibrationen und macht es perfekt für hochauflösende Bildgebung. XE-70 verfügt auch über eine benutzerfreundliche digitale Schnittstelle, so dass es einfach ist, das Mikroskop zu bedienen und seine Einstellungen zu manipulieren. Darüber hinaus ermöglicht die integrierte Bildverarbeitungssoftware die einfache Verarbeitung von Daten und die Erstellung hochwertiger Bilder. Insgesamt ist PARK SYSTEMS XE-70 ein leistungsstarkes und vielseitiges Rasterelektronenmikroskop, das unvergleichliche Leistung und Flexibilität bietet. Mit seiner Fähigkeit, hochauflösende Bilder und eine breite Palette von analytischen Fähigkeiten zu erfassen, ist es eine ideale Wahl für Forscher in verschiedenen Bereichen.
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