Gebraucht PARK SYSTEMS XE-HDM #9394707 zu verkaufen

PARK SYSTEMS XE-HDM ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM) von PARK SYSTEMS zur Durchführung hochauflösender Materialwissenschaften und messtechnischer Forschung. XE-HDM SEM verwendet eine hochmoderne Feldemissionskanone (FEG) Elektronenquelle kombiniert mit einem innovativen Elektronenoptik-Design, um eine hohe Auflösung von 1,2 nm zu erreichen. PARK SYSTEMS XE-HDM ist auch mit Sekundärelektronen (SE), Rückstreuelektronen (BSE) und FESEM-Detektoren (Field Emission Scanning) ausgestattet. XE-HDM bietet Anwendern den Vorteil eines großen Dynamikbereichs, der Beobachtungen von der Nanoskala bis hin zu größeren Probenwaagen ermöglicht. PARK SYSTEMS XE-HDM nutzt eine leistungsstarke FEG-Elektronenquelle, die einen Elektronenstrahl mit hoher Helligkeit mit ausgezeichneter Energiestabilität erzeugt, was zu hochauflösenden Bildern führt. XE-HDM ist in der Lage, Auflösungen bis zu 1,2 nm zu erreichen und hat einen Arbeitsabstand von bis zu 0,7 mm. PARK SYSTEMS XE-HDM bietet auch zwei analytische Funktionen mit seinen Energy Dispersive Röntgenspektroskopie (EDS) und Wellenlängen Dispersive Röntgenspektroskopie (WDX) Systeme. Die EDS- und WDX-Systeme sind in der Lage, elementare oder Zusammensetzungsanalysen mit einer räumlichen Auflösung von 0,6 µm durchzuführen. XE-HDM ist mit zwei Sekundärelektronendetektoren für die topographische Bildgebung, einem Niedervakuum-BSE-Detektor, einem fensterlosen In-Column-Detektor und einem SAS-Detektor (Small-Angle Scattering) ausgestattet. Der BSE-Detektor eignet sich ideal zur Abbildung von metallischen und Verbundproben sowie zur Abbildung lokaler Chemie-Eigenschaftsvarianten. PARK SYSTEMS XE-HDM ist auch mit einem Field Emission Scanning (FESEM) Detektor ausgestattet, der eine extrem hochauflösende Bildgebungsfähigkeit bietet. Das FESEM ist in der Lage, Auflösungen bis zu 0,8 nm abzubilden. Neben seinen bildgebenden Funktionen bietet das XE-HDM-System eine Reihe von Funktionen, die es zu einem leistungsstarken Werkzeug für die messtechnische Forschung machen. PARK SYSTEMS XE-HDM ist mit einem einzigartigen automatisierten Focus Feature Finder (FFF) -System ausgestattet, das die Probenkanten lokalisieren und den Elektronenstrahl automatisch mit hoher Genauigkeit fokussieren kann. XE-HDM bietet eine Vielzahl von automatisierten Messungen, wie Dicken- und Rauheitsmessungen und Flächenmessungen. PARK SYSTEMS XE-HDM bietet auch eine Lückenerkennungs- und Schritthöhenmessoption für automatisierte Messungen mit einer Auflösung bis zu 1 nm. XE-HDM ist ein fähiges Rasterelektronenmikroskop, das für die Materialwissenschaft und messtechnische Forschung geeignet ist. Mit seinem innovativen Elektronenoptikdesign und der leistungsstarken FEG-Elektronenquelle bietet PARK SYSTEMS XE-HDM eine hervorragende Auflösung und ein breites Spektrum an Analysefähigkeiten. Der automatisierte Focus Finder von XE-HDM und eine Vielzahl automatisierter Messungen bieten dem Anwender ein leistungsfähiges Werkzeug für die messtechnische Forschung.