Gebraucht PARKER CM20 #293801063 zu verkaufen

PARKER CM20 ist ein anspruchsvolles Rasterelektronenmikroskop (SEM), das Hochleistungs-Bildgebungs- und Analysefähigkeiten für eine breite Palette von Anwendungen in der Materialwissenschaft, Nanotechnologie, Elektronik und anderen wissenschaftlichen Bereichen bietet. Dieses fortschrittliche Instrument kombiniert modernste Technologie mit benutzerfreundlicher Oberfläche, um eine detaillierte und genaue Abbildung von Proben bei hoher Vergrößerung und Auflösung zu ermöglichen. Im Kern der CM20 befindet sich die Elektronenstrahlquelle, die einen fokussierten Strahl hochenergetischer Elektronen erzeugt, die zur Sondierung der Probenoberfläche verwendet werden. Der Elektronenstrahl wird von einem thermionischen Filament erzeugt und durch eine Reihe von elektromagnetischen Linsen beschleunigt, um die gewünschte Punktgröße und Strahlenergie zu erreichen. Die hochauflösenden Abbildungsfähigkeiten dieses SEM werden durch fortschrittliche elektronenoptische Systeme und Detektoren, die eine präzise Steuerung der Strahlposition und Detektion von sekundären und rückgestreuten Elektronen ermöglichen, weiter verbessert. Eines der Hauptmerkmale von PARKER CM20 ist seine vielseitige Probenstufe, die eine stabile und genaue Plattform für die Positionierung und Manipulation von Proben während der Bildgebung und Analyse bietet. Die Stufe kann in mehrere Richtungen gekippt, gedreht und übersetzt werden, um die Untersuchung der Probe aus verschiedenen Winkeln und Orientierungen zu erleichtern. Zusätzlich ist die Probenstufe mit motorisierten Steuerungen und automatisierten Softwareroutinen ausgestattet, die eine präzise und wiederholbare Positionierung der Probe für die Bildgebung und Analyse ermöglichen. Die bildgebenden Fähigkeiten von CM20 werden durch eine Reihe von Detektoren und Analysewerkzeugen ergänzt, die es Anwendern ermöglichen, detaillierte Informationen über die Zusammensetzung, Struktur und Topographie der Probe zu erhalten. Hierzu zählen unter anderem rückgestreute Elektronendetektoren, Sekundärelektronendetektoren, energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS) und Kathodolumineszenzdetektoren. Durch die Kombination verschiedener bildgebender Modi und analytischer Techniken erhalten Anwender umfassende Einblicke in die Eigenschaften und Eigenschaften der Probe auf der Nanoskala. Neben der Bildgebung und Analyse bietet PARKER CM20 auch erweiterte Möglichkeiten zur Probenvorbereitung und -manipulation. Das Mikroskop ist mit einem eingebauten Gaseinspritzsystem ausgestattet, das eine Abscheidung von Schutzschichten oder eine Kontrastverbesserung auf der Probenoberfläche ermöglicht. Das System kann auch für In-situ-Experimente und die dynamische Abbildung von Proben unter kontrollierten Umgebungsbedingungen wie Temperatur, Feuchtigkeit oder Gasatmosphäre verwendet werden. CM20 wurde mit einer benutzerfreundlichen Schnittstelle und Software entwickelt, die den Betrieb und die Datenanalyse optimiert. Das intuitive Bedienfeld und die Softwareschnittstelle ermöglichen es Benutzern, Bildparameter einfach einzurichten, Bilder zu erfassen und eine quantitative Analyse der Daten durchzuführen. Die Software enthält auch erweiterte Funktionen für die Bildverarbeitung, 3D-Rekonstruktion und automatisierte Messung von Mustereigenschaften, so dass es ein leistungsfähiges Werkzeug für Anfänger und erfahrene Benutzer. Insgesamt ist PARKER CM20 ein hochmodernes Rasterelektronenmikroskop, das außergewöhnliche bildgebende und analytische Fähigkeiten für eine Vielzahl von Anwendungen in der Materialwissenschaft, Nanotechnologie und anderen wissenschaftlichen Disziplinen bietet. Mit hochauflösender Bildgebung, fortschrittlichen Analysewerkzeugen, vielseitiger Probenstufe und benutzerfreundlicher Oberfläche ist CM20 ein wertvolles Instrument für Forschung, Entwicklung und Qualitätskontrolle in verschiedenen Bereichen der Wissenschaft und Technologie.