Gebraucht PEMTRON PS-230AL #293662815 zu verkaufen

PEMTRON PS-230AL Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein hochauflösendes Mikroskop, das verwendet wird, um eine breite Palette von Proben im Nanometermaßstab zu analysieren und abzubilden. Dieses Mikroskop wurde mit einzigartigen Funktionen entwickelt, um Leistung, Genauigkeit und Zuverlässigkeit zu maximieren. PS-230AL ist in der Lage, extrem hochauflösende Bilder mit einer maximalen Vergrößerungsauflösung von 50.000x bereitzustellen. Dies ermöglicht eine hochauflösende Analyse verschiedener Proben, darunter Metalle, Polymere, Halbleiter, Mineralien und Dünnschichtproben. PEMTRON PS-230AL verwendet einen Elektronenstrahl anstelle von Licht, um ein Bild zu bilden, und verfügt über ein integriertes System zur automatischen Fokussierung mit 20 Nanometern Genauigkeit. Es kann in einer Vielzahl von bildgebenden und analytischen Modi betrieben werden, wie Niedervakuum und Hochvakuum, konventionelle Abbildung in sekundärer und rückgestreuter Elektronendetektion, hochwinklige ringförmige Dunkelfeld-Rasterelektronenmikroskopie und energiedispersive Spektroskopie. PS-230AL ist mit einem digitalen Gehäuse ausgestattet, das einen sicheren und sicheren Telebetrieb des SEM ermöglicht. Dies ermöglicht es Benutzern, Echtzeit-Steuerung und Betrieb von jedem entfernten Ort mit einer Internetverbindung zu erleben. PEMTRON PS-230AL wird durch eine benutzerfreundliche grafische Benutzeroberfläche angetrieben und enthält leistungsfähige Software, die die Automatisierung von Aufgaben wie digitale Bildgebung, Probenvorbereitung und Bildverarbeitung ermöglicht. Dies ermöglicht dem Anwender maximale Flexibilität bei der Verwendung des Mikroskops und bietet eine einfache Möglichkeit, Proben in jeder Detailebene zu analysieren. PS-230AL ist ein zuverlässiges und technologisch fortschrittliches Mikroskop, das eine hohe Genauigkeit und überlegene Leistung in der Rasterelektronenbildgebung bietet. Es ist ideal für industrielle, pädagogische und Laboranwendungen und bietet eine kostengünstige Lösung zur Analyse von Proben im Nanometermaßstab.