Gebraucht PHILIPS CM10 #293645024 zu verkaufen

Das PHILIPS CM10 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein hochentwickeltes Werkzeug zur Visualisierung und Messung von Oberflächenmerkmalen unterschiedlichster Materialien mit einer Auflösung von bis zu 1 Nanometer, dem höchsten in jedem SEM. CM10 ist eine fortschrittliche Feldemissionskanone (FEG) SEM, die mit einem In-Column EDX-Detektor, einem Hochdruckgassystem, einem Niedervakuumdetektor, einem Niederenergie-Rückstreudetektor und einem Mehrkanal-Bildgebungsdetektor ausgestattet ist. Es verfügt über eine außergewöhnliche Auswahl an Funktionen, darunter ein großes Sichtfeld, eine überlegene Auflösung und erweiterte Bildsignalverarbeitungsfunktionen. PHILIPS CM10 FEG gibt ihm ausgezeichneten Kontrast und hohe Auflösung. Diese Art von Elektronenkanone verwendet ein starkes elektrisches Feld, um Elektronen aus dem Emitter zu extrahieren, was eine höhere Stabilität und Kontrolle des Elektronenstrahls ermöglicht. Durch seinen hohen Kontrast und seine Auflösung eignet er sich für die Analyse und Messung von Oberflächen bis hin zum Nanometermaßstab sowie für die Betrachtung der Oberflächenmorphologie. Der In-Column EDX (Energy-Dispersive X-Ray) Detektor gibt CM10 die Fähigkeit, die elementare Zusammensetzung von Proben während der Bildgebung zu analysieren, so dass es geeignet ist, Oberflächenzusammensetzung ohne zusätzliche Verarbeitung zu identifizieren. Dieser Detektor kann Röntgenspektren mit hoher Empfindlichkeit und Auflösung sammeln und ist für eine minimale Probenvorbereitung und einfache Datenerfassung optimiert. PHILIPS CM10 verfügt über ein großes Sichtfeld von bis zu 12 mm und eignet sich somit für die Abbildung großer Proben wie integrierte Schaltungen und Wafer. Dieses weite Sichtfeld kann für eine optimale Auflösung der Nanometerwaagen weiter eingestellt werden. CM10 verfügt außerdem über ein Hochdruckgassystem, einen Niedervakuumdetektor und einen Niederenergie-Rückstreudetektor. Das Hochdruckgassystem ermöglicht eine Probenmanipulation innerhalb des Mikroskops, wie beispielsweise eine gasunterstützte Bewegung oder eine Probeneinspritzung. Der Niedervakuumdetektor wird verwendet, um Elektronen zu detektieren, die aus einem bestimmten Nanometerbereich reflektiert werden, so dass die Abbildung tiefer Strukturen und anderer Merkmale sonst schwer zu detektieren ist. Der Low-Energy-Backscatter-Detektor erkennt schwache Hintergrundstrahlung, die bei der Identifizierung von Merkmalen im Nanoskalibereich helfen kann. PHILIPS CM10 ist auch mit einem Mehrkanal-Bildaufnehmer ausgestattet. Damit werden mehrere EM-Felder gleichzeitig und effizienter erkannt, wodurch detailliertere Bilder erfasst werden können. Insgesamt ist CM10 ein fortschrittliches, hochauflösendes SEM mit einem großen Sichtfeld, leistungsstarken Detektoren und In-Column EDX. Mit seinem beeindruckenden Leistungsspektrum eignet sich PHILIPS CM10 ideal für die Bildgebung und Messung von Oberflächenmerkmalen unterschiedlichster Materialien und kann auch zur Messung kleinster Nanometermerkmale verwendet werden.