Gebraucht PHILIPS / FEI 1076301 #293660714 zu verkaufen

PHILIPS/FEI 1076301 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein Werkzeug der nächsten Generation, das zur Bildgebung und Analyse physikalischer Eigenschaften bei hohen Auflösungen verwendet wird. Mit einem fokussierten Elektronenstrahl kann dieses SEM eine Vielzahl von Materialien sowohl in organischer als auch in anorganischer Form abbilden. FEI 1076301 ist mit einer außergewöhnlich hohen räumlichen Auflösung ausgestattet, so dass Benutzer kleinere Funktionen mit großer Genauigkeit analysieren können. Dies wird durch die Verwendung eines kombinierten Differentialaußenhohlraums (EC) und einer Objektivlinse (OL) erreicht, um eine Leistung von bis zu 512kV zu erreichen. Mit dieser tiefen Vergrößerung ist das SEM in der Lage, sehr feine Details bis in eine Tiefe von 1 Nanometer aufzulösen. Es ist auch mit einem Großfeld-von-Ansicht (FOV) Bildgebungssystem ausgestattet, das eine breite Abdeckung von Proben bietet, auch wenn ein SEM-Bild aufgenommen wird. Dies zusammen mit den vielseitigen motorisierten Stufen ermöglicht es einem Anwender, schnell über eine ganze Probe zu scannen und eine detaillierte topographische Analyse zu ermöglichen. PHILIPS 1076301 ist auch mit einem leistungsstarken Array von Detektoren ausgestattet, die zur Durchführung von Elementaranalysen wie der Energiedispersive-Spektroskopie (EDS) und der Elektronen-Backscatter-Beugung (EBSD) verwendet werden können. 1076301 profitiert auch von fortschrittlicher Automatisierung, die unbeaufsichtigtes Scannen und unbeaufsichtigte Analyse ermöglicht. Diese Funktion eliminiert zeitaufwendige und langwierige Probenvorbereitung und strafft den bildgebenden Prozess. Es ermöglicht auch genaue und konsistente Ergebnisse, da die Analyse ohne menschliches Versagen durchgeführt wird. Schließlich ist PHILIPS/FEI 1076301 mit einer Reihe von proprietären Software-Tools für die Probenmanipulation ausgestattet, einschließlich der einzigartigen „Spiegel“ -Funktion, die es einem Benutzer ermöglicht, die Ausrichtung des Elektronenstrahls zu steuern, um die Auflösung weiter zu erhöhen. Darüber hinaus ermöglicht die mitgelieferte Automatisierungssuite dem Benutzer, detaillierte Berichte, Bildanmerkungen und andere Informationen zu den Funktionen seiner Beispiele zu erstellen. Insgesamt ist FEI 1076301 ein zuverlässiges und leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop, das sich gut für die Bildgebung und Analyse einer Reihe von physikalischen Eigenschaften in einem breiten Anwendungsspektrum eignet. Das außergewöhnliche hochauflösende und gut abgerundete Bildgebungssystem sowie eine Reihe von Automatisierungsmerkmalen machen es zu einem idealen Instrument für Forschungs- und Industrieanwendungen.