Gebraucht PHILIPS / FEI 200 #293642983 zu verkaufen

Das Rasterelektronenmikroskop PHILIPS/FEI 200 ist eine weltweit führende Mikroskopie-Plattform zur Bildgebung und Charakterisierung einer Vielzahl von Mikro- und Nanoeigenschaften. Es verfügt über eine hochauflösende, die eine präzise Abbildung von Merkmalen bis zu wenigen Nanometern oder weniger ermöglicht. Dank seiner hochpräzisen Scanfunktionen kann bei Vergrößerungen bis FEI 200.000x eine breite Palette von Charakterisierungstechniken eingesetzt werden. PHILIPS 200 ist mit einer großen Kammer ausgestattet, die Probengrößen von bis zu 200x200 mm ermöglicht. Ein großer rückgestreuter Elektronendetektor (BSE) sammelt Informationen über Kontrast, Topographie und elementare Zusammensetzung der Oberfläche, während ein sekundärer Elektronendetektor (SE) zur Aufnahme kontrastreicher Bilder verwendet werden kann. Zur Erhöhung der Auflösung kann eine FEI-erzeugte Strahlquelle von 2-5 kV verwendet werden, die eine Abbildung der internen Mikrostruktur von Proben über das hinaus ermöglicht, was mit einem herkömmlichen S/M-Mikrograph abgebildet werden kann. Es ist auch kompatibel mit einer Vielzahl von hochauflösenden Bilderzeugungs- und Tomographietechniken, wie Low Vacuum Scanning Electron Microscopy (LV-SEM). 200 ist spezialisiert auf hochauflösende Bildgebung einer breiten Palette von Proben, einschließlich organischer Materialien, Metalle und Verbundwerkstoffe. Seine Vielseitigkeit macht es ideal für die Bildgebung und Bewertung von Form und Topographie, sowie Oberflächenrauhigkeitsanalyse, Partikeldimensionierung und atomare Bildgebung mit Hafnium-Verbindungen. Die einzigartigen Funktionen der Mikroskopie-Plattform bieten eine einfache Bedienung und Automatisierung von Prozessen. Die Stufe kann sowohl mit manuellen als auch motorisierten Stufen ausgestattet werden, die eine präzise Probenpositionskontrolle sowie eine automatisierte Bildgebung und Kompositionsanalyse ermöglichen. Eine Vielzahl von Automatisierungssoftware und Suchalgorithmen stehen zur Verfügung, um die Probenanalyse und automatisierte Prozesssteuerung zu erleichtern. Durch die Verwendung fortschrittlicher Nanofokusquellen, die die effektive Elektronenstrahlgröße um den Faktor 10 reduzieren und den bildgebenden Bereich über PHILIPS/FEI 200.000x hinaus erweitern können, ermöglicht FEI 200 eine hochdetaillierte Oberflächen- und Innenstrukturbildgebung. Darüber hinaus korrigiert die automatische Aberrationsregelung Verzerrungen, die durch elektronenelastische Streuung eingeführt werden, und verbessert die Genauigkeit der Abbildungsergebnisse. Insgesamt ist PHILIPS 200 ein modernes Rasterelektronenmikroskop, das für die hochauflösende Bildgebung und Charakterisierung einer Vielzahl von Proben entwickelt wurde. Mit fanstatischen Bildgebungs- und Analysefähigkeiten und einer Vielzahl von Automatisierungsmerkmalen bietet dieses Instrument eine zuverlässige Plattform zur Materialcharakterisierung und Qualitätskontrolle.