Gebraucht PHILIPS / FEI Altura 830 #9329326 zu verkaufen

PHILIPS/FEI Altura 830 ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das speziell für die fortschrittliche metallurgische und nanoskalige Forschung entwickelt wurde. Dieses Gerät ist das weltweit erste echte Dual-Beam-SEM, das eine höhere Funktionalität und Präzision bei der Materialcharakterisierung ermöglicht. Das SEM ist mit einer hochauflösenden Feldemissionskanone (FEG) für verbesserte Bildgebungsfähigkeit ausgestattet, mit einer Bildauflösung von weniger als 40 nm bei 1 kV Beschleunigungsspannung zur optimalen Präzisionskennzeichnung. Die echte Dual-Beam-Fähigkeit des Altura ermöglicht eine Vielzahl von bildgebenden Techniken, einschließlich Elektronenstrahl (EBSD), Deep Surface Imaging (DSI) und chemische Kartierung. Im EBSD-Modus können Anwender Kristallgitter verschiedener Materialien schnell und präzise abbilden und dabei helfen, verschiedene Phasen zu identifizieren sowie die bevorzugte Orientierung der Mikrostruktur zu bestimmen. Die chemischen Kartierungsmodi des Altura analysieren die elementare Zusammensetzung von Oberflächen, um die Grenzfläche zwischen verschiedenen Materialien zu bewerten, ein Merkmal, das für die detaillierte Analyse in Verbundwerkstoffen, Keramiken und mehrschichtigen MEMS verwendet wird. Durch den Einsatz von DSI bietet das Altura eine Querschnittsbildgebung zur Untersuchung von Dünnschichtabscheidung und dielektrischen Strukturen niedriger k. FEI Altura 830 ist auch mit der neuesten EDS-Detektortechnologie ausgestattet, die in der Lage ist, elementare Kompositionskarten in weniger als einer Minute bereitzustellen. Die Detektortechnologie ist in das SEM integriert und bietet Anwendern eine Echtzeitanalyse. Das Mikrokanal-Plattendesign (MCP) und die integrierte digitale Offset-Korrektursoftware bieten eine hervorragende Leistung, auch wenn verschiedene Analysen im Nanometermaßstab durchgeführt werden. Der Detektor reduziert Belastungs- und Geräuscheffekte, was zu niedrigen Detektionsgrenzen und einer höheren Genauigkeit in der Spuren- und Kleinelementanalyse führt. Schließlich bietet PHILIPS Altura 830 eine Fülle von Bearbeitungsfunktionen, mit denen Benutzer Bilder verbessern und Fokus und Kontrast leicht anpassen, Rauschen entfernen, Rahmen kombinieren und Helligkeit und Farbton anpassen können. Die Informationen werden auf dem Monitor angezeigt, so dass Benutzer Bilder leicht an ihre gewünschten Spezifikationen anpassen können. Zusammenfassend ist Altura 830 ein Rasterelektronenmikroskop, das speziell für komplexe metallurgische und nanoskalige Forschung entwickelt wurde. Seine erweiterten Funktionen, wie echte Dual-Beam-Funktionen, chemische Zuordnungsmodi und EDS-Detektor-Technologie, bieten Anwendern beispiellose Präzision und Genauigkeit für Forschung und Analyse.