Gebraucht PHILIPS / FEI CM 200ST #293673900 zu verkaufen

PHILIPS/FEI CM 200ST ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit variabler Druckfähigkeit für überlegene bildgebende Ergebnisse auf empfindlichen und weichen Materialien. Diese variable Drucktechnologie verwendet einen kontinuierlichen Niederdruckgasstrom, um die Menge der Oberflächenaufladung zu reduzieren und gleichzeitig nennenswerte Sekundärelektronenausbeuten zu erzielen, wodurch hervorragende Abbildungsergebnisse von fragilen Proben möglich sind. FEI CM 200ST verfügt auch über eine einzigartige aberrationskorrigierte Schottky-Elektronenfeldemissionskanone, die die Erzeugung eines außergewöhnlich niedrig energetischen Elektronenstrahls (bis zu 1,7 keV) ermöglicht. Dieser energiereiche Betrieb ermöglicht die Abbildung von organischen und Lichtelementen ohne Verwendung einer leitfähigen Beschichtung, wodurch eine genaue Detektion und Analyse der elementaren Komponenten der Probe ermöglicht wird. PHILIPS CM 200ST ist in der Lage, hochauflösende Bildgebung mit Röntgenmikroanalyse und EDX-Mapping sowie spektroskopische Analysefähigkeiten im Bereich zwischen 20-30 keV zu erzeugen. Die leistungsstarke EDS (energy-dispersive Röntgenspektroskopie) steht für die elementare Zusammensetzungsanalyse bei Auflösungen wie 0,7 nm zur Verfügung. Neben der variablen Druckfunktionalität verfügt CM 200ST über zwei leistungsstarke Hardware- und Software-Stabilisierungsoptionen zur Verringerung der Bildschädigung durch Vibrationen und andere Umweltstörungen. Die Ergebnisse sind gleichbleibend hochwertige Bildgebung unabhängig von äußeren Bedingungen. Das Mikroskop ist auch in der Lage, eine breite Palette von bildgebenden Funktionen, von konventionellen topographischen Bildgebung zu fortgeschrittenen SEM-bildgebenden Techniken wie: Rasterübertragungselektronenmikroskopie (STEM), Rasterröntgenbeugung (XRD), Elektronenstrahlbeugung (EBSD raction), und Elektronenstrahlbildanalyse (EBIA). Das Anwendungsspektrum von PHILIPS/FEI CM 200ST umfasst Materialforschung, Halbleiteranalyse, Nanotechnologie, eingebettete Fehlerlokalisierung und mehr. Insgesamt ist FEI CM 200ST ein leistungsstarkes und vielseitiges Rasterelektronenmikroskop mit hervorragenden bildgebenden Funktionen und einer Vielzahl von Anwendungsmöglichkeiten für Forscher und Praktiker. Dieses SEM der neuesten Generation verfügt über eine niederenergetische Elektronenkanone, eine variable Drucktechnologie und eine Reihe fortschrittlicher Bildgebungstechniken, die es zu einem idealen Werkzeug für die Erfassung detaillierter Informationen über eine Vielzahl von Proben machen.