Gebraucht PHILIPS / FEI CM Series #9225196 zu verkaufen

PHILIPS/FEI CM Serie von Rasterelektronenmikroskopen ist ein fortschrittliches bildgebendes Instrument zur Untersuchung von Materialien bei sehr hohen Vergrößerungen. Dieses fortschrittliche Bildgebungssystem ist in der Lage, hochauflösende Bilder von Strukturen, Oberflächen und Merkmalen im Nanometermaßstab zu erzeugen. Dieses fortschrittliche Instrument eignet sich für den Einsatz in einer Vielzahl von Forschungs-, Entwicklungs- und Bildungsumgebungen. Die FEI CM-Serie eignet sich für eine Vielzahl von Probentypen, von einzelnen Partikeln bis hin zu Schüttgutstrukturen. Dieses fortschrittliche Instrument nutzt eine einzigartige Kombination aus elektronenoptischer Technologie und Scantechnologie, um hochauflösende Bilder zu erzeugen. Die elektronenoptische Säule der PHILIPS CM Serie bietet Vergrößerungen von bis zu 1000.000x mit einer Winkelauflösung von 0,2 µrad. Diese Einheit kann mit einer Reihe von bildgebenden Detektoren kombiniert werden, einschließlich Sekundärelektronen, Rückstreuelektronen (SSB) und Transmissionselektronen (TEM), um die detailliertesten Bilder von Proben zu erhalten. Mit der CM-Serie können Forscher Struktur und Zusammensetzung einer Reihe von Materialien für eine Vielzahl von Forschungszwecken analysieren, beispielsweise Korrosionsprozesse untersuchen, dünne Filme auswerten oder strukturelle Merkmale wie kristalline Defekte untersuchen. Darüber hinaus eignet sich die Einheit zur hochauflösenden Abbildung von biologischen Proben wie Zellen und Gewebeabschnitten, die eine detaillierte Analyse biologischer Strukturen ermöglichen. PHILIPS/FEI CM Serie ist ein leistungsstarkes bildgebendes Werkzeug mit einer Reihe von erweiterten Funktionen ausgestattet. Dazu gehören integrierte Spektrometriefunktionen für die automatisierte elementare Kartierung, komplette Automatisierungsoptionen für die Probenausrichtung und Bildgebung, fortschrittliche automatisierte Bühnenscannung für die dreidimensionale Bildgebung und eine Vielzahl von Softwarepaketen zur Unterstützung der Probenanalyse. Insgesamt ist die FEI CM Serie ein fortschrittliches bildgebendes System mit Fähigkeiten, die für eine breite Palette von Forschungsprojekten und Anwendungen geeignet sind. Dieses Instrument bietet hochauflösende Bilder mit spektrometrischen und autostereoskopischen Fähigkeiten, die es Forschern ermöglichen, die Struktur und Zusammensetzung von Proben im Nanometermaßstab zu analysieren und zu verstehen.