Gebraucht PHILIPS / FEI CM10 #293802472 zu verkaufen

PHILIPS/FEI CM10 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein Elektronenmikroskop, das hochauflösende Bilder von Proben bei Vergrößerungen im Bereich von 15x bis 800000x erzeugen kann. Es ist für die qualitativ hochwertige Bildgebung einer breiten Palette von Materialoberflächen konzipiert. Dieses ausgeklügelte Werkzeug verwendet eine flüssige stickstoffgekühlte Elektronenquelle und ein fensterloses Immersionslinsen-Design, um kontrastreiche Bilder zu bieten. Herzstück der FEI CM10 ist ein Elektronenmikroskop, das einen Elektronenstrahl mit einer Feldemissionskanone (FEG) mit einer relativ niedrigen Energiespannung von 10 kV verwendet. Diese Feldemissionskanone wird durch eine Form der elektrostatischen Ablenkung aktiviert, die die Elektronen in wenigen Nanometern Flugzeit ablenkt und eine Auflösungsvergrößerung von bis zu 2000x ergibt. Kontrast und Helligkeit können angepasst werden, um die Bildqualität zu optimieren. PHILIPS CM 10 kann auch für höhere Vergrößerungsgrade mit Hilfe von Bildveredelungstechniken verwendet werden, dazu gehört auch variabler Druck, der ein Vakuum im Probenraum erzeugt. Dadurch kann sich der Elektronenstrahl während der Analysen frei bewegen, ohne die Oberfläche der Probe zu beschädigen. PHILIPS CM10 kann verwendet werden, um 3D-Bilder aus einem einzigen Scan zu erzeugen, was zu detaillierten Bildern mit größerer Genauigkeit führt. Dies geschieht durch die Verwendung einer motorisierten Bühnenplattform, um die Probe in x-, y- und z-Ebenen zu bewegen. Dadurch kann derselbe Scan mehrere Bilder der Probe aus verschiedenen Winkeln in einer Bildfolge erfassen. Darüber hinaus bietet CM 10 eine Vielzahl von Anwendungen wie: automatisierte Partikelgrößen- und Formanalyse, digitale kompositorische Kartierung, Elementaranalytik und verschiedene andere Bildgebung. Zusätzlich können mit Hilfe der integrierten Mikroanalyse-Software Daten aus mehreren Frames zu einem größeren 3D-Bild kombiniert werden. CM10 ist eine ideale Wahl für Wissenschaftler und Ingenieure, die eine detaillierte Abbildung einer Vielzahl von Proben benötigen. Die Maschine bietet eine breite Palette von Funktionen, Anwendungen und bildgebenden Modi, die eine detaillierte Analyse von Materialoberflächen aus einer Reihe von Materialien und Elementen ermöglichen. Das Rasterelektronenmikroskop PHILIPS/FEI CM 10 ist mit seinen vielfältigen Funktionen und Anwendungen ein sehr wertvolles Werkzeug.