Gebraucht PHILIPS / FEI CM10 #9245811 zu verkaufen

PHILIPS / FEI CM10 ist eine hohe Auflösung, niedrige Stromspannungsabtastung des Elektronmikroskops (SEM), die für eine breite Reihe der Bildaufbereitung und analytischen Anwendungen verwendet wird. Dieses fortschrittliche Instrument bietet überlegene Leistung, Flexibilität und benutzerfreundliche Bedienung. Mit der Fähigkeit zur hochauflösenden Bildgebung und beispielloser Leistung bietet FEI CM10 die höchste Gesamtauflösung und optimale Analysefunktionen. PHILIPS CM 10 ist mit einer zweistufigen Wärmeleitpistole für die sekundäre Elektronenbildgebung (SE) ausgelegt. Dieses SEM ist mit einem Asgo Advanced Imaging Equipment (AIS) G3 (AFM) Digital Controller ausgestattet, der alle Mikroskopparameter steuern kann. Das AIS G3 bietet alle Funktionen des SEM, einschließlich Stigmatisierung, Bildgebung und Analysefunktionen, und bietet gleichzeitig eine intuitive Benutzeroberfläche. PHILIPS/FEI CM 10 enthält außerdem einen ladungsneutralisierenden rückgestreuten Elektronendetektor (BSE) und ein Röntgenenergie (EDX) -Spektrometer mit einem Osprey-Detektor. Der BSE-Detektor, ein automatisierter integrierter rückgestreuter Elektronendetektor, ist der erste seiner Art und ein echter Durchbruch in der SEM-Technologie. Der Osprey EDX Systemdetektor bietet eine überlegene Auflösung und Empfindlichkeit im Vergleich zu anderen EDX Systemen. Der Druck in der Elektronensäule von CM10 hält eine Hochvakuumumgebung für höchste bildgebende und analytische Leistung aufrecht. Dieses Gerät verfügt auch über eine patentierte, 3-stufige Gasfüllmaschine, die es extrem geeignet macht, die Analyse in einer unübertroffenen Atmosphäre abzuschließen. PHILIPS CM10 ist auch mit dedizierter Hardware für Slow-Scan-Bildgebung ausgestattet, die für sehr dünne Proben mit unregelmäßigen Oberflächen verwendet wird und hochauflösende Bilder liefert. Insgesamt ist CM 10 eine hochmoderne, benutzerfreundliche Quelle für SEM-Bildgebung und -Analyse. Es bietet eine Reihe von analytischer Leistung und Leistung in einem einzigen, flexiblen Instrument. Mit fortschrittlichen Funktionen wie AIS G3, BSE-Detektor, OPS-Detektor und langsamen Scan-Bildgebungsfunktionen ist FEI CM 10 die ideale Wahl für eine breite Palette von SEM-Anwendungen.