Gebraucht PHILIPS / FEI CM10 #9358402 zu verkaufen

PHILIPS/FEI CM10 ist ein hochwertiges Rasterelektronenmikroskop (SEM) für fortschrittliche Materialcharakterisierung. Dieses Mikroskop verwendet eine einzigartige Kombination aus einer Elektronenkanone und einem hochauflösenden, hocheffizienten bildgebenden Detektor, um atemberaubende filmische Ansichten der hochauflösenden Bilder zu liefern. FEI CM10 bietet ein voll integriertes, automatisiertes Design und beinhaltet eine sekundenbruchteilige Reaktionszeit für eine schnelle Bildaufnahme. Es verfügt auch über eine Nanopräzision Sputterquelle, die die kontrollierte Abscheidung von Materialien auf einer Probe für fortgeschrittene Materialanalyse ermöglicht. Es bietet einen Hochgeschwindigkeits-Scanmotor, der Geschwindigkeiten von bis zu 12,5 x schneller als die Konkurrenz erreichen kann und Auflösungen bis zu 28 Nanometer mit Phasenkontrast-Bildgebung erreichen kann. Darüber hinaus ist PHILIPS CM 10 speziell für die fortschrittliche Materialcharakterisierung konzipiert und kann Partikel im Bereich von 0,1 bis 100 Nanometern detektieren und identifizieren. Dies ermöglicht eine verbesserte Partikelanalyse und bildgebende Fähigkeiten, einschließlich kompositorischer Bildgebung, Röntgenelementspektroskopie und Vollfeldelektronenbeugung. Darüber hinaus verfügt dieses Mikroskop über eine breite Palette von Detektoren, einschließlich Sekundärelektronendetektoren, Sendestrahldetektoren, Rückstreuelektronendetektoren, Mikrokanalplatten und In-Linsen-Detektoren. Auf diese Weise können Forscher detaillierte Bilder erfassen und eine verbesserte chemische Analyse der Oberflächenstruktur aller Arten von Materialien durchführen. Schließlich ist PHILIPS/FEI CM 10 in der Lage, 4K-Auflösung Bilder und Videos für erweiterte Charakterisierung zu erfassen. Darüber hinaus ermöglicht die leistungsstarke Software eine anspruchsvolle Automatisierung, Datenverarbeitung und Bildanalyse und ist damit ein ideales Instrument für die industrielle und akademische Forschung.