Gebraucht PHILIPS / FEI CM100 #293587495 zu verkaufen

PHILIPS/FEI CM100 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine hochauflösende Bildgebung und Analyse von Proben in einer Reihe von wissenschaftlichen oder industriellen Anwendungen ermöglicht. Es verwendet einen Elektronenstrahl, um eine Probe anzuregen, und die resultierenden Sekundärelektronen werden dann detektiert und verwendet, um ein Bild der Probe zu erstellen. Dieses SEM ist mit einer Reihe von Funktionen ausgestattet, die es einzigartig für eine Reihe von Anwendungen geeignet machen. FEI CM100 verwendet eine Kaltfeld-Emissionskanone, um den Elektronenstrahl zu erzeugen und bietet eine ausgezeichnete räumliche Auflösung von bis zu 0,8 nm. Das Gerät ist auch mit einem Hochspannungsnetzteil ausgestattet, das eine breite Palette von Betriebsspannungen für die Probenanalyse und Bildgebung ermöglicht. Dieses SEM ist auch mit einem elektronenstrahlinduzierten Strom (EBIC) -Detektor ausgestattet, der die Abbildung von Halbleiter- und Isoliermaterialien ohne Lichtanregung und das damit verbundene Rauschen ermöglicht. PHILIPS CM100 ist in der Lage, eine hochauflösende elementare Mikroanalyse bereitzustellen, die außergewöhnliche Tiefen- und Zusammensetzungsinformationen liefert. Das System ist sowohl mit einem BSE-Detektor als auch mit einem sekundären Elektronendetektor ausgestattet, mit dem die Oberfläche und die elementare Zusammensetzung einer Probe identifiziert werden können. Der EBIC-Detektor kann ferner die Abbildung von p-n-Übergängen ermöglichen und eine quantitative Analyse der Struktur und Zusammensetzung von Leistungsschaltungen und anderen Halbleiterbauelementen ermöglichen. CM100 ist auch mit einem energiedispersiven Röntgenspektrometer (EDS) ausgestattet, das eine Ergänzung der Probenbildgebung durch detaillierte Elementarkarten ermöglicht. Die Kombination der sekundären und rückgestreuten Elektronendetektoren und des EDS hilft, Merkmale und potentielle Defekte einer Probe schnell zu identifizieren und den Analyse- und Auswertungsprozess zu beschleunigen. PHILIPS/FEI CM100 bietet auch eine Reihe von erweiterten Bildgebungsmodi, einschließlich SEM und STEM-Bildgebung. Dies ermöglicht eine hochauflösende Abbildung einer Probe ohne zusätzliche Probenvorbereitung. Das Gerät ist auch in der Lage, eine automatisierte Bühnenbewegung, so dass große Flächenbilder schnell erhalten und analysiert werden können. FEI CM100 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das sich sowohl für Forschung als auch für industrielle Anwendungen eignet. Das Leistungsspektrum der Maschine eignet sich hervorragend für die Auswertung und Analyse von Materialien sowie für die Abbildung von Halbleiter- und anderen Gerätestrukturen. Mit einer Reihe von Detektoren, bildgebenden und analytischen Modi bietet PHILIPS CM100 beispiellose bildgebende und analytische Funktionen.