Gebraucht PHILIPS / FEI CM100 #293646003 zu verkaufen

PHILIPS/FEI CM100 ist ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das entwickelt wurde, um genaue Bilder einer Vielzahl von Proben bereitzustellen. Es ist mit einer Schottky-Feldemissionskanone (FE), einem Sekundärelektronendetektor, einem Röntgendetektor und einem STEM-Detektor ausgestattet. FEI CM100 bietet hohe Leistung und Flexibilität bei der Bildgebung, analytischen Messungen und kristallographischen Kartierung. Das Gerät bietet eine 3 nm Auflösung und verfügt über eine einstellbare 0,7 bis 30 kV Beschleunigungsspannung, die eine Abbildung einer Reihe von Proben ermöglicht. Das System erreicht auch eine Sub-Nanometer-Auflösung zusammen mit einem 16-Bit-Dynamikbereich, die effektiv sowohl Probenmerkmale als auch die potentiellen atomaren Anordnungen in Proben auflöst. Das Gerät verfügt sowohl über Schottky Feldemission (FEI) und eine thermische Feldemissionskanone (TFE) Quelle. Die Schottky-Quelle bietet einen geringen Strom von nur 0.15nA und ermöglicht eine sehr präzise Strahlsteuerung. Die Wärmequelle wiederum liefert einen höheren Strom von bis zu 20nA, um eine schnellere Bildgebungsgeschwindigkeit zu erzielen. Beide Quellen können bis zu 30 kV fahren, wodurch eine breite Palette möglicher kinetischer Energien gewährleistet ist, um On-the-Fly-Einstellungen vorzunehmen, ohne die Strahlenergie neu einstellen zu müssen. PHILIPS CM100 kann mit einer Reihe von Detektoren ausgestattet werden, einschließlich eines Sekundärelektronendetektors, eines Röntgendetektors und eines STEM-Detektors. Der Sekundärelektronendetektor liefert Bilder der obersten Atomschicht der Probe; der Röntgendetektor ein Bild der Elementverteilung der Probe liefert; und der MINT-Detektor Bilder einzelner Atome bereitstellen kann. CM100 bietet auch die Analyse von Elektrodensignalen wie Strom, Spannung und Potential. Das Mikroskop verfügt über ein Produktions-Softwarepaket, mit dem der Benutzer Informationen und Bilder speichern kann, um Ergebnisse für eine spätere Analyse zu generieren. Zusätzlich bietet die Maschine Automatisierungslösungen an, so dass bildgebende oder analytische Messungen wiederholt werden können, wodurch der Probendurchsatz erhöht wird. Zusammenfassend ist PHILIPS/FEI CM100 ein leistungsstarkes und vielseitiges Rasterelektronenmikroskop, das in der Lage ist, eine breite Palette von Proben mit Sub-Nanometer-Auflösung und hoher Genauigkeit abzubilden. Seine einstellbare Beschleunigungsspannung, Schottky und thermische FE-Quelle und die Palette von Detektoren geben ihm Flexibilität und ermöglichen es ihm, bildgebende und analytische Ergebnisse schnell und einfach bereitzustellen.