Gebraucht PHILIPS / FEI CM100 #293659026 zu verkaufen

ID: 293659026
Transmission Electron Microscope (TEM) With BRUKER Energy Dispersive Spectrometer (EDS).
PHILIPS/FEI CM100 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein hochentwickeltes bildgebendes Instrument, das sowohl in der Forschung als auch in industriellen Anwendungen eingesetzt wird. Dieses leistungsstarke Instrument verfügt über eine große Feldemissionselektronensäule und eine moderne Bildaufnahmeausrüstung. FEI CM100 SEM arbeitet mit einer Niederspannungs-Feldemissionskanone (FEG). Es erzeugt einen hochfokussierten und niedrig energetischen Elektronenstrahl, der auf eine Innenfläche einer Probe gerichtet ist. Die Elektronen interagieren mit dem Material und erzeugen eine Vielzahl von Signalen, die durch die Oberflächenkontur, Zusammensetzung und Struktur bestimmt werden. Diese Wechselwirkung wird verstärkt und dann von einem elektronischen Detektor gesammelt, mit dem ein zweidimensionales Bild erzeugt wird. PHILIPS CM100 hat eine Vergrößerungsleistung von 30,000X bis 400,000X, die erreicht werden kann, ohne die integrierte 15kV-acceleration Spannung zu verlieren. Dieses SEM ist auch mit einem hochauflösenden Bildgebungssystem ausgestattet, das optimiert ist, um Überschall-Lichtbeschleunigerpaare für eine erhöhte Auflösungsleistung bereitzustellen. CM100 SEM verfügt über verschiedene analytische Fähigkeiten, die es zu einer großen Wahl für hochpräzise analytische Studien machen. Dazu gehören automatisierte bildbasierte Elementaranalyse, Kristallstrukturanalyse und Phasenkontrast-Bildgebung. PHILIPS/FEI CM100 ist auch für den automatischen Betrieb konzipiert, mit motorisierten X-Y-Stufen, automatischem Probenaustausch und einem integrierten 10-Position-Probenhalter. Neben seinen bildgebenden Funktionen ist FEI CM100 SEM auch mit einer Reihe fortschrittlicher Funktionen ausgestattet. Dazu gehören eine rauscharme, dithered Detektionseinheit, ein signalfähiger Ionendetektor und eine fortschrittliche Bildverarbeitungsmaschine mit verschiedenen Filteroptionen. PHILIPS CM100 verfügt zudem über ein umfassendes Bedienfeld, das schnellen Zugriff auf eine Vielzahl von Einstellungen und benutzerdefinierten Parametern bietet. CM100 Rasterelektronenmikroskop ist eine ideale Wahl für diejenigen, die ein fortschrittliches bildgebendes Instrument suchen, das in der Lage ist, eine anspruchsvolle Analyse an einer Vielzahl natürlicher und verarbeiteter Proben durchzuführen. Dieses hochentwickelte SEM enthält eine beeindruckende Reihe von Funktionen, die es Forschern und Industriearbeitern ermöglichen, detaillierte und genaue Bilder zu einem Bruchteil der Kosten im Vergleich zu konkurrierenden Modellen zu erhalten.
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