Gebraucht PHILIPS / FEI CM100 #9202885 zu verkaufen

PHILIPS/FEI CM100 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit einem beeindruckenden Feature-Set, das Forschern detaillierte Bilder ihrer Probe in hoher Auflösung zur Verfügung stellt. FEI CM100 ist eine thermisch und vibrationsstabile Hochleistungs-SEM-Plattform, die ultrafeine Querschnittsabbildungs- und Analysefunktionen für eine Vielzahl von Anwendungen bietet. Seine fortschrittlichen Bildgebungswerkzeuge, einschließlich fortschrittlicher digitaler Signalprozessor (DSP) basierter Bewegungssteuerung, digitaler Bildgebungs-Zoom (DIZO) und Bildverschiebungsfunktion (ISF), führen zu einer schnelleren und genaueren Lokalisierung und hochauflösenden Bildgebung. PHILIPS nutzt CM100 zwei Hauptkomponenten: die SEM-Säule und die Probenstufe. Die leistungsstarke SEM-Spalte enthält eine Elektronenquelle mit Beschleunigungsspannung bis zu 30kV, ein vollautomatisches Auto-Tune- und Gun-Tune-Feature und ein DSP-gesteuertes Auto-Focus-System. Zusammen ermöglicht diese Kombination es Forschern, ultrahochauflösende Bilder und Analysen ihrer Proben zu erhalten. Die Probenstufe verfügt über eine Plattform-Scan-Steuerung und eine motorisierte Probenstufe zur präzisen Probenmanipulation. Darüber hinaus ist CM100 mit einem Sekundärelektronendetektor (SED) für die Oberflächenbildgebung sowie einem Sekundärelektronendetektor (LKV-SED) für die Querschnittsbildgebung ausgestattet. PHILIPS/FEI CM100 bietet auch mehrere erweiterte Tools für die maximale Analyse Ihrer Probe. Die patentierte MEM-CAD-Funktion ermöglicht es Forschern, große Datenmengen aus derselben Probe in mehreren Drehschritten für eine effektive 3D-rekonstruktive Bildanalyse abzubilden und zu akkumulieren. Die DIC-Funktion (Digital Image Correlation) verbessert die Leistung von FEI- CM100 durch genaue Messung von Oberflächentopographie und Shift-Effekten. Schließlich stellt die automatisierte Merkmalserkennung (AFR) sicher, dass Ihre Daten genau analysiert werden können, indem eine Vielzahl von Parametern sowie Statistiken und Anmerkungsfunktionen automatisch erkannt werden. Zusammenfassend ist PHILIPS CM100 ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das beispiellose Bildqualität und vielseitige Analysewerkzeuge liefert. Seine hochempfindlichen Detektoren und leistungsstarken Funktionen sind in der Lage, den Forschern detaillierte Bilder und umfassende Daten ihrer Proben zur Verfügung zu stellen. CM100 ist die ideale Plattform für eine Vielzahl von Forschungsanwendungen.