Gebraucht PHILIPS / FEI CM12 #293616770 zu verkaufen

ID: 293616770
Transmission Electron Microscope (TEM) Tungsten / LaB6 Filament Twin lens Single tilt holder Power: 120 kV.
PHILIPS/FEI CM12 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein Hochleistungs-Analysegerät, das für hochauflösende Bildgebung und Elementaranalyse entwickelt wurde. Es verfügt über eine große Kammer, die eine Vielzahl von Substraten, Probengrößen und Vakuumanforderungen unterstützt und eine breite Palette von bildgebenden und spektroskopischen Anwendungen ermöglicht. FEI CM12 SEM ist mit einer automatisch gesteuerten Säule und Elektronenkanone ausgestattet. Mit der Pistole wird ein Elektronenstrahl erzeugt, der dann in einem Winkelbereich auf die Probe gerichtet wird. Auf diese Weise kann der Benutzer die Menge der von der Probe reflektierten Elektronen unter verschiedenen Winkeln messen und ein Bild der Oberfläche erzeugen, das für die weitere Analyse verwendet werden kann. PHILIPS CM 12 SEM bietet auch eine Vielzahl von bildgebenden Techniken an, darunter rückgestreute Elektronen (BSE), sekundäre Elektronen (SE) und rückgestreute SE-Bildgebung. Diese Techniken bieten eine stark verbesserte Bildauflösung, so dass der Benutzer feine Details genauer beobachten und kleine Partikel auf der Oberfläche der Probe untersuchen kann. Für eine hochauflösende Bildgebung ist PHILIPS CM12 SEM mit einem fortschrittlichen energiedispersiven Röntgenspektroskopiesystem (EDX) ausgestattet. Auf diese Weise kann der Benutzer die Energieniveaus messen, bei denen einzelne von der Probe emittierte Röntgenphotonen mit den Elektronen in der Probe interagieren, was eine elementare Analyse der Oberfläche ermöglicht. Darüber hinaus verfügt CM12 über eine automatisierte Stufe und ein automatisiertes Musterhandhabungssystem, das eine automatisierte Probenpositionierung und -navigation ermöglicht. Schließlich macht die Benutzeroberfläche FEI CM 12 einfach zu bedienen und bietet eine Reihe von erweiterten Tools für die Analyse. Zur Benutzeroberfläche gehört auch ein theoriebasierter Ansatz, der Anwendern hilft, die mit der Elektronenmikroskopie verbundenen Konzepte schnell zu verstehen. PHILIPS/FEI CM 12 SEM ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das eine hochauflösende bildgebende und elementare Analyseleistung bietet. Es ist mit einer automatisch gesteuerten Säule und Elektronenkanone sowie einer automatisierten Probenhandhabung und Positionierung ausgestattet. Die Benutzeroberfläche ist einfach zu bedienen und macht CM 12 zu einem leistungsstarken und effektiven Werkzeug für Bildgebung und Analyse.
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