Gebraucht PHILIPS / FEI CM12 #293649963 zu verkaufen

PHILIPS/FEI CM12 Scanning Electron Microscope (SEM) ist eine fortschrittliche Ausrüstung, die verwendet wird, um hochauflösende Bilder von Proben auf der Nanoskala zu erhalten. Dieses System ist eines der leistungsstärksten Rasterelektronenmikroskope, die derzeit auf dem Markt erhältlich sind, da es mehrere präzise Funktionen aufweist, die überlegene bildgebende und analytische Fähigkeiten ermöglichen. FEI CM12 ist mit einer erweiterten elektronenoptischen Einheit mit einem breiten Vergrößerungsbereich bis zu 100,000X ausgestattet. Dieses Mikroskop verfügt über eine innovative Magnetstrahlablenktechnologie, die eine präzise, hochbeschleunigte Steuerung der Bildfleckgröße und -form ermöglicht. Diese Art der präzisen Steuerung ist wichtig, um präzise, detaillierte Bilder der Nanoskala zu erhalten. Darüber hinaus verfügt PHILIPS CM 12 über eine anspruchsvolle Maschine aus Sekundärelektronen-, Rückstreuelektronen- und Röntgendetektoren sowie eine Hochgeschwindigkeits-Bildgebungsmethode, die zur Verbesserung der Bildgebungsgeschwindigkeit beiträgt. Dieses Mikroskop verfügt auch über ein einzigartiges Vorverstärkungspanel, das verbesserte Signal-Rausch-Verhältnisse bietet und Rauschpegel im Vergleich zu anderen SEMs reduziert. Darüber hinaus ist CM12 mit einer Vielzahl von Analysetechniken ausgestattet, wie Energy Dispersive X-Ray Analysis (EDXA), Electron Backscatter Diffraction (EBSD) und Charge Coupled Device (CCD) Imaging. Mit diesen Techniken kann der Anwender eine breite Palette von Materialien identifizieren, messen und analysieren, von anorganisch bis organisch. FEI CM 12 ist mit einer Reihe fortschrittlicher Sicherheitsfunktionen konzipiert, einschließlich eines integrierten Vakuumwerkzeugs, das während des Betriebs hohe Vakuumwerte aufrechterhält, sowie eines Anti-Kollisionsdetektors, der Objekte oder Personen erkennt, die zu nahe an die Vakuumkammer kommen. Dies hilft, das Risiko einer Beschädigung des Mikroskops und der Proben zu reduzieren. Die visuelle Komponente von PHILIPS/FEI CM 12 ist ebenfalls hochentwickelt und verfügt über erweiterte Bildänderungs-, Analyse- und Anmerkungssysteme. Dadurch kann der Anwender die Bilder genau einstellen und die Probe detailliert analysieren. Insgesamt ist PHILIPS CM12 Scanning Electron Microscope eine fortschrittliche bildgebende Technologie, die überlegene Leistung in Bezug auf den Vergrößerungsbereich, die bildgebende Geschwindigkeit und die analytischen Fähigkeiten bietet. Seine Sicherheitsmerkmale machen es zu einer idealen Wahl für eine breite Palette von Nanostrukturbildgebungs- und Analyseanwendungen.