Gebraucht PHILIPS / FEI CM12 #9090827 zu verkaufen

Das PHILIPS/FEI CM12 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein Hochleistungs-Bildgebungsgerät, mit dem Benutzer die Oberflächenzusammensetzung von Materialien bei hoher Vergrößerung und Auflösung beobachten und analysieren können. Das SEM bietet eine breite Palette von Fähigkeiten für eine Vielzahl von Forschungs- und Industrieanwendungen, einschließlich Stichprobenprüfung und tiefgreifende Materialanalyse. FEI CM12 verwendet Elektronenstrahlen, um Bilder von Proben auf verschiedene Weise zu erstellen, wie Sekundärelektronen (SEs), Rückstreuelektronen (BSEs) und reflektierte Elektronen. Diese Bilder liefern genaue und detaillierte Informationen über die physikalischen und chemischen Eigenschaften von Oberflächen und auch kleine Merkmale, die nicht mit Lichtmikroskopie beobachtet werden können. PHILIPS CM 12 bietet eine großformatige digitale Bildgebungsplattform mit einer extra großen Kammer und Fliesenfähigkeit für große Probenbeobachtung. Die große Kammer ermöglicht es Benutzern, eine größere Fläche in hoher Auflösung zu visualisieren, und die Fliesenlegungsfähigkeit macht es zu einer idealen Wahl für Makro- und Mikroproben-Mapping. CM 12 bietet auch ein automatisches Bildnaht- und Skalierungswerkzeug, mit dem mehrere Bilder zu einem nahtlosen Bild kombiniert werden können. Dieses Merkmal ist besonders nützlich für die eingehende Analyse großer Proben, da es die Zeit und den Aufwand für das manuelle Nähen von Proben eliminiert. Das SEM kann auch verwendet werden, um Oberflächenelemente auf einer Probe mittels Energy Dispersive Röntgenspektroskopie (EDS) zu detektieren und abzubilden. Diese Technik ermöglicht es Benutzern, Spurenmengen von Elementen innerhalb einer Probe mit hoher Genauigkeit zu identifizieren und zu messen. Das EDS-System ist mit einer integrierten Software ausgestattet, die mehrere erweiterte Funktionen für quantitative und qualitative Analysen bietet, mit der Fähigkeit, noch komplexere Analysen und Datenverarbeitungen durchzuführen. PHILIPS CM12 bietet im Sekundärelektronenmodus eine bis zu höchste Auflösung von 1,2 nm/Pixel und im reflektierten Elektronenmodus 0,63 nm/Pixel. Der SE-Detektor wird durch einen Niederspannungsmodus und eine Reihe von dedizierten Detektoren für eine Vielzahl von Anwendungen weiter verbessert. Dieses SEM-System ist einfach zu bedienen und bietet eine robuste und zuverlässige Leistung, die durch einen exzellenten Kundenservice und Schulungsunterstützung unterstützt wird. Egal, ob Sie ein Forschungs- und Entwicklungslabor, eine Qualitätssicherungsabteilung oder eine industrielle Prozesslinie sind, das Rasterelektronenmikroskop PHILIPS/FEI CM 12 hilft Ihnen, Einblicke in die Zusammensetzung von Materialien für bessere Produktleistung und Kosteneinsparungen zu erhalten.