Gebraucht PHILIPS / FEI CM12 #9284248 zu verkaufen

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ID: 9284248
Scanning Electron Microscope (SEM) With GATAN Ultrascan 4000 Oneview camera Thermionic electron Image resolution: Point to point: ≤0.34nm Line to line: 0.2nm Transmission (TEM) Scanning transmission (STEM) Selected area diffraction (SAD) Micro-diffraction (μD) Convergent beam electron diffraction (CBED) Bright field X-Ray Energy Dispersive Spectrometer (EDS) Elemental spectra Map Transect profile data Modes: Dark field operating Standard TEM Scanning Powerful pre optimized recording 16 Megapixel CMOS sensor: Sensitivity Speed LaB6 OneView camera excels Unparalleled 25 fps Real time drift correction Dynamic range extension Focused beam with high current Density small diameter EDS X-ray micro analysis Spatial resolution micro analysis Bulk (about 0.5 -3 microns) STEM wide range: Imaging Analytical capabilities EDS System Dynamic processes with N-Situ electron microscopy 4096 x 4096 Ppixels 25 fps 512 x 512 Pixels over 300 fps 25 Frames per second 4000 x 4000 Resolution 16 pixel CMOS Sensor Magnification range: 31x to 660000x Thermionic electron source Selectable beam acceleration voltage 20kV -120kV.
PHILIPS/FEI CM12 ist ein aberrationskorrigiertes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine außergewöhnliche strukturelle Auflösung und hohe Bildgebungsfähigkeit bietet. Es ist die Spitze der Linie, Elektronmikroskop scannend, das durch FEI, einen Weltführer in High-End-Elektronmikroskopiesystemen verfertigt ist. Das hochmoderne Design von FEI CM12 verfügt über ein In-Linsen-Elektronenoptiksystem, das eine leistungsstarke Aberrationskorrektur ermöglicht, wodurch die bildgebenden Eigenschaften den herkömmlichen Rastermikroskopen überlegen sind und die Probenhandhabungsfähigkeit verbessert wird. Niedrige Beschleunigungsspannungen bedeuten niederenergetische Elektronen zur Bildgebung, was zu verbesserten Kontrast- und Sekundärelektronenausbeuten für eine überlegene Bildgebung führt. Dieses Elektronenmikroskop nutzt fortschrittliche Strahlformungstechnologie, wie Elektronenlinsenaberrationskorrektur und fortschrittliche Kontrastverbesserung, um die höchstmögliche Bildqualität zu gewährleisten. Der Strahlformungsprozess hilft auch dabei, chromatische Aberrationen zu entfernen, die die Bildqualität bei hohen Vergrößerungen beeinträchtigen können. PHILIPS CM 12 ist in der Lage, hochauflösende Bildgebungsfähigkeiten bis zu 1 nm über eine Vielzahl von Probentypen zu erreichen. Darüber hinaus bietet seine Energiefiltereinheit gekoppelt mit einem hochauflösenden Festkörperdetektor ein breites Spektrum an Abbildungsfähigkeiten, von der elementaren Kartierung bis zur Elektronentomographie. Mit Fernzugriff ermöglicht das System Wissenschaftlern, ihre Forschungsgeschwindigkeit und Flexibilität zu erhöhen. Dies ermöglicht es Forschern, das SEM von einem separaten Bereich abseits des Mikroskops aus zu steuern und Komfort und die Möglichkeit zu bieten, sich auf Experimente zu konzentrieren, ohne das System zu koaxieren. CM12 bietet eine hervorragende Leistung mit zusätzlichen Funktionen und Optionen, die es flexibel und benutzerfreundlich machen. Mit seiner beeindruckenden Fehlerkorrekturfähigkeit, hochauflösender Bildgebung und umfangreichen bildgebenden Optionen ist CM 12 eine ideale Wahl für hochauflösende bildgebende Anwendungen.
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