Gebraucht PHILIPS / FEI CM12 #9315596 zu verkaufen
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ID: 9315596
Weinlese: 1990
Scanning Transmission Electron Microscope (STEM)
Gun: Tungsten / LaB6
Energy: 20 Kv to 120 Kv
Point resolution: 0.34 nm
Lattice resolution: 0.20 nm
STEM Magnification: 70x to 510,000x
TEM Magnification: 100x to 800,000x
Minimum focused probe: 2 nm
1990 vintage.
PHILIPS/FEI CM12 ist ein Feldemissionsrasterelektronenmikroskop (FE-SEM), das häufig auf dem Gebiet der Werkstoffwissenschaft und Werkstofftechnik eingesetzt wird. Es ist eine Art Elektronenmikroskop, das feldgeladene Elektronen verwendet, um die Oberfläche eines Probenmaterials abzubilden. Diese Art von Elektronenmikroskop ermöglicht eine Bildgebung höherer Auflösung im Vergleich zu anderen herkömmlicheren Arten von Elektronenmikroskopen, wie dem Transmissionselektronenmikroskop (TEM). FEI CM12 ist mit einer ultrastabilen Feldemissionselektronenkanone (FEG) ausgestattet, die eine hochauflösende Bildgebung ermöglicht. Das FEG besteht aus einem Wolframfaden, der Elektronen erhitzt und emittiert, wenn eine Spannung angelegt wird, wodurch ein Bild des Probenmaterials erzeugt wird, das eine höhere Auflösung hat als das vom TEM erzeugte. PHILIPS CM 12 verwendet eine Reihe weiterer Funktionen und Komponenten, um ein Bild zu erzeugen. Dazu gehören eine Autofokus-Ausrüstung, ein automatisches Nivelliersystem, eine kugelförmige Ablenkspule, ein Objektwechsler oben und eine Niederspannungs-Hochvergrößerungssäule. Die Autofokus-Einheit verwendet einen mikroempfindlichen Detektor, um den Fokus des Elektronenstrahls einzustellen, um die Auflösung des Bildes zu verbessern. Die automatische Nivelliermaschine sorgt dafür, dass die Probenstufe des Mikroskops immer niveauvoll und stabil ist, was hilft, eine konsistente Auflösung aufrechtzuerhalten. Die sphärische Ablenkspule verwendet einen Elektromagneten, um die Richtung des Elektronenstrahls einzustellen, wodurch eine möglichst hohe Auflösung erreicht wird. Der obere Probenwechsler ermöglicht ein schnelles und einfaches Wechseln des Probenmaterials in der Mitte des Abbildungsprozesses. Dies ermöglicht die einfache Neupositionierung von Proben und stellt sicher, dass der bildgebende Prozess nicht unterbrochen wird. Die Niederspannungs-Hochvergrößerungssäule ermöglicht eine hochauflösende Abbildung von Proben bei relativ niedriger Spannung. Insgesamt ist PHILIPS CM12 ein hochmodernes Rasterelektronenmikroskop, das eine hochauflösende Bildgebung und eine Reihe von Funktionen bietet, die es zu einer idealen Wahl für materialwissenschaftliche und werkstofftechnische Anwendungen machen. Es ist ein wertvolles Werkzeug, das es Wissenschaftlern ermöglicht, ein tiefes Verständnis der Materialien zu erlangen, die sie studieren.
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