Gebraucht PHILIPS / FEI CM120 #9359285 zu verkaufen

PHILIPS/FEI CM120 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für eine Reihe von Forschungs- und Industrieanwendungen verwendet wird. Es ist bekannt für überlegene Bildauflösung und -tiefe. FEI CM120 ist Teil der FEI High-End-Reihe von SEMs und bietet die neuesten Funktionen, einschließlich Driftkorrektur für verbesserte Bildstabilität und intuitive Touch-Steuerung zur Anpassung und Optimierung von Setup-Parametern. PHILIPS CM 120 verwendet eine Feldemissionskanone (FEG), die einen hochwertigen fokussierten Elektronenstrahl erzeugt, der eine Auflösung von 1,5 nm ermöglicht. Dies ermöglicht die Erzeugung von Bildern mit hohem Kontrast und Oberflächendetails. Das System enthält auch einen großen E-Detektor zur Erzeugung hochwertiger sekundärer und rückgestreuter Elektronenbilder. Diese Merkmale, kombiniert mit der sondenkorrigierten Minisäule, führen zur Erzeugung scharfer Bilder von Objekten bis in die Atomwaage. PHILIPS/FEI CM 120 ist mit einer Reihe von Software ausgestattet, um eine Führung beim Betrieb des Mikroskops bereitzustellen. Dazu gehören Tools zur Optimierung der Datenerfassung und Bildanalyse sowie zur Verwaltung von Aufgaben wie Beispielvorbereitung und Datenspeicherung. PHILIPS CM120 ist für verschiedene Arten der Bildgebung ausgestattet. Traditionelle SEM-Bildgebung kann für Oberflächentopographie und hochauflösende Bildgebung verwendet werden. Zur Erzeugung von Korn- und Kristallstrukturbildern wird die Abbildung mit Abblendlicht verwendet, während die Abbildungen mit Abblendlicht zur Erzeugung kontrastreicher Bilder und elementarer Karten dienen. Darüber hinaus ist der CM 120 für die energiedispersive Spektroskopie (EDS) ausgerüstet, die für chemische Analysen von Proben eingesetzt wird. Ein Infrarot-Mikroskop (IRM) kann zur Infrarot-Bildgebung und thermischen Analyse hinzugefügt werden. Schließlich kann FEI CM 120 zur automatisierten Inspektion und Vermessung und zur allgemeinen Qualitätskontrolle eingesetzt werden. Es kann zur Beurteilung von Foliendicke, Abmessungen, Oberflächentopographie, Defekten und elementarer Zusammensetzung verwendet werden. Das System ist submikrongenau und kann für eine Vielzahl von Anwendungen eingesetzt werden, von elektronischen Komponenten bis hin zu medizinischen Geräten und Materialien.