Gebraucht PHILIPS / FEI CM20 #293639218 zu verkaufen

PHILIPS/FEI CM20 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein vielseitiges, zuverlässiges und genaues Gerät, das in verschiedenen Forschungs- und Industrieanwendungen verwendet wird. Dieses moderne SEM ist bekannt für seine scharfe Bildsprache und seine leistungsfähigen analytischen Fähigkeiten und ist damit ein ideales Instrument für eine Vielzahl von Anwendungen. Das Instrument verfügt über eine vollständig umlaufende, ultrahochvakuumkammer, die die notwendige Umgebung für eine effiziente und genaue Bildgebung und Analyse bietet. FEI CM20 hat ein Geschützdesign, das entlang der vertikalen Achse magnetische und elektrostatische Fokussierfelder kombiniert und einen stabilen und leistungsstarken Strahl erzeugt. Die Pistole ist Kabel zur Bereitstellung eines Elektronenstrahls mit einer Beschleunigungsspannung von bis zu 20 kV und Strahlströmen bis zu 200nA. Es verfügt auch über einen Wien-Filter zur Steuerung der Strahlzusammensetzung. Dieses SEM ist auch mit einer Vielzahl von Detektoren ausgestattet, jeder mit seinem einzigartigen Zweck. Dazu gehören ein Sekundärelektronendetektor, ein Rückstreuelektronendetektor, ein in der Spalte befindlicher energiedispersiver Röntgenspektrometer (EDS) und ein in der Spalte befindlicher Sekundärelektronendetektor zum Detektieren von Oberflächenpotential. Diese Detektoren ermöglichen es dem Benutzer, sehr detaillierte Bilder zu erfassen und eine Vielzahl von Materialeigenschaften zu analysieren. PHILIPS CM 20 kommt auch mit einer großen Auswahl an Beispielstufen, so dass der Benutzer eine Vielzahl von Proben in verschiedenen Umgebungen abbilden. Dazu gehören eine Standard-Probenstufe, die in manueller und automatisierter Ausführung erhältlich ist, eine Kryostufe, die die Probe auf 10 ° C kühlen kann, und eine Vielzahl von Spezialstufen wie eine Gaseinlassstufe und eine Heizstufe. Die Benutzeroberfläche dieses SEM ist intuitiv und ermöglicht es Benutzern, verschiedene Parameter schnell an ihre Vorlieben anzupassen. Darüber hinaus verfügt die Instrumentensoftware über ein breites Spektrum an Funktionen wie Stich- und Navigationsmodi sowie leistungsstarke Bildanalyse- und Automatisierungstools. PHILIPS/FEI CM 20 ist ein fortschrittliches Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop, das zuverlässige und genaue Bildgebungs- und Analysefunktionen bietet. Es ist das ideale Instrument für eine Reihe von Forschungs- und Industrieanwendungen.