Gebraucht PHILIPS / FEI CM20 #293686733 zu verkaufen

PHILIPS/FEI CM20 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) zur zerstörungsfreien Analyse von Oberflächen in einer Vielzahl von Anwendungen. Das Gerät hat eine maximale Sekundärelektronen (SE) Bildauflösung von 1 nm und bietet überlegene Leistung bei niedrigen kV für reduzierte Aufladung und optimale Auflösung von feinen Eigenschaften. Das Gerät ist mit der neuesten FEI EDAX Software ausgestattet, die Bildverarbeitungsfunktionen wie Zirkularitätsanalyse, gitterlose Messung, Bildsegmentierung, Graphen-Charakterisierung, Partikelverfolgung und mehr bietet. Es hat auch integrierte On-Board-Bildanalyse-Software für schnelle Ergebnisse, sowie ein Bild-Speichersystem für die Speicherung von Daten. FEI CM20 verfügt über eine Kaltfeld-Emissionskanone (FEG), einen Elektronenstrahl mit der geringstmöglichen Energie, der die höchste Auflösung der Bildgebung ermöglicht. Der Strahlblanker ermöglicht auch eine reduzierte Aufladung von Proben, wodurch ein möglichst geringer Probenschaden entsteht. Zusätzlich hält der sollwertgesteuerte SE-Detektor über die Zeit einen festen Zustand für konsistente Ergebnisse und die Bildstabilität ist mit der eingebauten Strahlstabilisierungsfunktion gewährleistet. Das Mikroskop weist einen großen Arbeitsabstand auf, wodurch die Proben leicht zugänglich sind. Die Bühne ist motorisiert und ermöglicht eine bequeme Navigation rund um die Probe. Die Maschine hat auch einstellbaren Kammerdruck für erweiterte Anwendungsmöglichkeiten, einschließlich Hochvakuum und Niedervakuum-Umgebungen. PHILIPS CM 20 ist robust und zuverlässig und bietet eine außergewöhnlich hohe Auflösung für eine Vielzahl von zerstörungsfreien Anwendungen. Seine integrierte Steuerung, Software, Detektoren und Zubehör machen es zu einem unschätzbaren SEM-Bildgebungswerkzeug für Anwender aller Fähigkeitsstufen.