Gebraucht PHILIPS / FEI CM20 #293766563 zu verkaufen

PHILIPS/FEI CM20 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine hochauflösende, stabile Abbildung von Proben im Nanometermaßstab ermöglicht. Es wurde entwickelt, um ein vielseitiges bildgebendes Instrument zu sein, das für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet ist, einschließlich Materialwissenschaft, Biologie und Halbleiterfehleranalyse. FEI CM20 ist mit einer großflächigen Feldemissionsquelle für höhere Elektronenausbeuten, einem Hochvakuumsystem, das eine Niederdruckabbildungsumgebung bereitstellt, und einer Hochvakuumübertragungskammer für die Niedervakuumbeobachtung ausgestattet. Das SEM ist auch mit einer optischen Kamera mit Farbvergleichsfunktionen ausgestattet. PHILIPS CM 20 verfügt über Hochleistungs-Bildgebungsfunktionen wie Hellfeld, Dunkelfeld und differentieller Interferenzkontrast (DIC). Das fortschrittliche Vakuumsystem ermöglicht die Beobachtung mit Hoch- und Niedervakuum-Bildgebungsmodi. Der Anwendungsbereich verwendet auch rückgestreute Elektronenenergiefilter auf der Achse und außerhalb der Achse für spezifische Isotopenidentifikations- und Zusammensetzungsinformationen, während variable Längen von Pulselektronenoperationen die Oberflächenaufladung während der hochauflösenden Bildgebung reduzieren. PHILIPS CM20 wurde entwickelt, um mit einer Vielzahl von Detektoren zu arbeiten, einschließlich eines Array-Detektors für großflächige Bildgebung und hohen Durchsatz, sowie eines sekundären Elektronendetektors, der eine gleichzeitige Abbildung von Topographie und Zusammensetzung ermöglicht. FEI CM 20 bietet auch die Möglichkeit, automatisierte Bilder sowohl im Niedrig- als auch im Hochvakuum-Modus zu erfassen und ermöglicht eine anspruchsvolle 3D-Bildgebung und Analyse der Oberflächenmerkmale der Probe. Weitere Abbildungsmerkmale bestehen aus beliebiger Neigungswinkelmanipulation und automatischer Probenstufenmanipulation zur Bildabtastung unter unterschiedlichen Winkeln. Das SEM ist auch mit einem EDX-Detektor für die Elementaranalyse in Kombination mit integrierter Mikroanalyse-Software ausgestattet, die mehrdimensionale Bilddaten bereitstellt, die zur Analyse der chemischen Zusammensetzung und Elementarstruktur von Proben verwendet werden können. Schließlich ist PHILIPS/FEI CM 20 mit einer Vielzahl von Zubehörteilen ausgestattet, darunter ein E-Strahl-Lithographiegerät, eine breite Palette von Probenhaltern, ein Sekundärelektronendetektor und ein Waffenausrichtungs- und Autofokussystem. Dieses Zubehör, kombiniert mit den hochauflösenden Bildgebungsfunktionen von CM 20, ermöglicht eine Vielzahl von Anwendungen, von Halbleiterfehleranalysen bis hin zu materialwissenschaftlichen Studien.