Gebraucht PHILIPS / FEI CM200 FEG #293639217 zu verkaufen

PHILIPS/FEI CM200 FEG ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das Anwendern eine effiziente Möglichkeit bietet, mikroskopische Proben zu untersuchen. Das SEM verwendet Kathodolumineszenz, um Proben gleichzeitig mit Standard-Sekundärelektronendetektoren und Dünnfilm-Röntgendetektoren zu fotografieren. Das Mikroskop wird von einer Feldemissionskanone (FEG) angetrieben, die einen fokussierten Elektronenstrahl abgibt, um Proben kleiner Größen sehr detailliert schnell abzubilden. Diese zuverlässige bildgebende Ausrüstung eignet sich perfekt für die Analyse von Mikrostrukturen und bietet im Vergleich zu anderen bildgebenden Systemen einen beispiellosen Detailgrad. Die Hochleistungsdatenerfassungsfähigkeiten von FEG VON FEI CM200 sind für die physische Wissenschaft und Halbleiterforschung ideal. Die Dual-Shooter-Fähigkeiten des SEM bieten eine simultane bildgebende Lösung für obere und untere Oberflächenaufnahmen, die langwierige Bühnenbewegungen der Probe eliminiert. Das SEM weist eine niedrige Beschleunigungsspannung von 1-2 kV auf, die ferner der Minimierung von Ladeeffekten dient. PHILIPS CM200 FEG ist mit einem hochauflösenden digitalen Bildgebungssystem ausgestattet. Die Einheit enthält einen Kammerrechner und einen Sekundärelektronendetektor, der in der Lage ist, hochauflösende 2D-Bilder von auf der Bühne platzierten Proben für Messungen und Tiefenanalysen zu erfassen. Es enthält auch eine automatisierte Probenausrichtmaschine zur Bereitstellung von bis zu 1-Mikron-Auflösung und zur Orientierung von Proben in Kreisbewegungen bis 8 mm Durchmesser. CM200 FEG verfügt auch über eine automatisierte Bühne mit 600 mm x 600 mm Bewegungsbereich. Die Bühne ist in der Lage, präzise seitliche Bewegungen und Kipppositionswiederholbarkeit bereitzustellen. Dadurch bewegt sich das SEM präzise über große Flächen und sorgt für eine präzise Steuerung des Mikroskops bei gleichzeitig hoher Stabilität. Das Gerät verfügt auch über Kühlelemente sowohl auf der Probenstufe als auch auf dem Sekundärelektronendetektor, die die Umgebung des SEM stabilisieren und thermische Schwankungen reduzieren. PHILIPS/FEI CM200 FEG kommt auch mit fortschrittlicher Software zur präzisen Datenerfassung und -steuerung und einem automatisierten Bildscanner. Der Bildscanner ermöglicht eine präzise Steuerung des Elektronenstrahl-Ablenkwerkzeugs, mit dem Materialien automatisch in Proben lokalisiert und analysiert werden. Dies bietet Wissenschaftlern eine effiziente Möglichkeit, mehrere Bereiche einer Probe in einem einzigen Sweep zu untersuchen und zu analysieren. Darüber hinaus bietet die ausgeklügelte Software dem Anwender eine schlanke Schnittstelle zur Steuerung seiner Messungen und zum Herausfiltern von Geräuschen. FEI CM200 FEG ist das perfekte Werkzeug für die Analyse mikroskopischer Proben aufgrund seiner Vielzahl von Funktionen und fortschrittlichen technologischen Fähigkeiten. Es bietet präzise hochauflösende Bildgebung, effiziente Bühnenbewegung und automatisierte Softwarefunktionen, um die Probenanalyse effizienter und genauer zu gestalten. PHILIPS CM200 FEG ist mit seinen vielen Funktionen und seinem zuverlässigen Imaging-Asset die ideale Lösung für jedes Labor.