Gebraucht PHILIPS / FEI CM200 #293606955 zu verkaufen

PHILIPS/FEI CM200 Rasterelektronenmikroskop ist ein fortschrittliches und vielseitiges bildgebendes Gerät, das zur Inspektion der mikroskopischen Oberflächenmorphologie verschiedener Materialien verwendet wird. Das Mikroskop ist mit einer Niederspannungs-analytischen Elektronensäule ausgestattet und dient in erster Linie dazu, hochauflösende Bilder der Oberflächentopographie einer Probe zu erhalten. FEI CM200 verfügt über ein Design auf Basis einer modularen Plattform, die die flexible Integration einer Vielzahl von Detektoren und Zubehör ermöglicht. Damit ist das Mikroskop eine ideale Wahl für eine Vielzahl von bildgebenden Anwendungen wie Mikroskopie von Halbleiterbauelementen, Kristallen, Geologie und Biologie. Das Mikroskop wird von einem 200kV Wolfram-Filament Elektronenkanone angetrieben. Die Pistole erzeugt einen Elektronenstrahl, der durch eine Kombination von magnetischen und elektrostatischen Linsen auf die Probenoberfläche fokussiert und gerichtet wird. Der Elektronenstrahl wird über zwei Schrittmotoren über die Probe abgetastet und die resultierenden Sekundärelektronen dann von einem Elektronendetektor zur Abbildung detektiert. Darüber hinaus ist PHILIPS CM 200 mit einem rückgestreuten Elektronendetektor (BSE) ausgestattet, der es dem Bediener ermöglicht, Oberflächenmerkmale zu unterdrücken und tiefere Merkmale einer Probe aufzudecken. Die Röhrenverstärkung von PHILIPS/FEI CM 200 ist in Sekundärelektronen zwischen 0,5 und 8x mit einer maximalen Auflösung von 20 nm einstellbar. Darüber hinaus verfügt das Instrument über ein verstellbares digitales Z-Achsen-Abbildungssystem, mit dem der Bediener Neigungswinkel genau einstellen und sich auf Probenmerkmale konzentrieren kann. Darüber hinaus ist das Mikroskop mit einer Reihe von speziellen Detektorpaketen kompatibel, darunter digitale und Kathoden-Lumineszenz-Detektoren sowie Röntgenspektrometer, mit denen detailliertere Ergebnisse erzielt werden können. Das Rasterelektronenmikroskop CM 200 ist ein äußerst ausgefeiltes und leistungsstarkes Bildgebungsgerät und in der Lage, extrem detaillierte Darstellungen der Oberflächenmorphologie einer Probe für eine Vielzahl von Materialien bereitzustellen. Die benutzerfreundliche Steuerungssoftware, die das Mikroskop begleitet, ermöglicht es dem Bediener, Vergrößerung, Helligkeit und Kontrast für maximale Klarheit und Details einzustellen. Unter Berücksichtigung seiner leistungsstarken bildgebenden Funktionen, Flexibilität und Erschwinglichkeit ist FEI CM 200 eine ideale Wahl für eine Vielzahl von bildgebenden Anwendungen.