Gebraucht PHILIPS / FEI CM200 #293610665 zu verkaufen

PHILIPS / FEI CM200 ist eine Zwischenstromspannung, Elektronmikroskop scannend, das mit einer Reihe von Elektronentdeckern wie ein Everhart-Thornley vereinbar ist und Filter darstellend. Dieses Rasterelektronenmikroskop ist mit einer Feldemissionskanone (FEG) und einer hellen Feldoptik ausgestattet, um eine höhere Auflösung zu erreichen. Dieses Gerät hat eine maximale Beschleunigungsspannung von bis zu 200 kV, was eine präzise Abbildung und Analyse von Proben in verschiedenen Bereichen ermöglicht. Das FEG von FEI CM200 wird von einem flüssigen stickstoffgekühlten Emitter angetrieben, um die Ladung zu reduzieren. Dies ermöglicht einen stabilen Betrieb mit präziser Dosis- und Helligkeitsregelung, wodurch dieses Instrument für eine Reihe von Anwendungen geeignet ist. Die herkömmlichen FE-Linsen werden mit hochwertigen Koaxial-Magnetronen aktiviert, die Magnetfelder verwenden, um die Elektronen zu fokussieren. Zur Abbildung und Analyse von Proben umfasst PHILIPS CM 200 eine Reihe von integrierten Detektoren, wie z.B. einen Sekundärelektronendetektor (SE). Dieser Detektor bietet qualitative Einblicke in Proben und erfasst Bilder von Merkmalen wie der Oberflächenrauhigkeit. Der rückgestreute Elektronendetektor (BSED) ist ausgestattet, um eine quantitative Analyse von Proben zu ermöglichen und Messungen von kritischen Merkmalen wie der elementaren Zusammensetzung bereitzustellen. Um Proben mit PHILIPS- CM200 abzubilden, ist eine ultrahohe Präzision und eine schnelle Reaktionsstufe enthalten. Die Bedienelemente sind motorisiert und können die Proben in einem Bereich von 6-Achsen-Bewegung manipulieren. Dies ermöglicht die dynamische Bildgebung und Ausrichtung von Proben, die den nm-Maßstab erreichen. Auch ein integriertes Röntgenenergiespektrometer ist in diesem Instrument enthalten, um die elementare Verteilung in der Probe abzubilden. Neben Probenmanipulation und Bildgebung ist CM 200 in der Lage, Proben auf Material- und Strukturebene zu analysieren. Dies geschieht durch die Kombination der bildgebenden Fähigkeiten von Sekundärelektronen, rückgestreuten Elektronen und Röntgenstrahlen. Spektroskopische Analysen können durchgeführt werden, um Proben zu untersuchen und Informationen über ihre Struktur und Wechselwirkungen zwischen Materie und Elektronen bereitzustellen. FEI CM 200 bietet benutzerfreundliche Stabilität und Kontrolle, was dieses Rasterelektronenmikroskop zu einer idealen Wahl für eine Vielzahl von Forschungs- und Bildungsanwendungen macht. Es verfügt über ein intuitives Bedienfeld und eine breite Palette von bildgebenden Modi. Dadurch ist es möglich, mehrere Bilder von Proben in verschiedenen Bereichen der Probe zu erfassen und einen umfassenden Überblick zu gewährleisten.