Gebraucht PHILIPS / FEI CM200 #293639843 zu verkaufen

PHILIPS/FEI CM200 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine vielseitige, hochleistungsfähige Bildgebung bietet. Im Gegensatz zu herkömmlichen SEM-Systemen bietet dieses Mikroskop eine sehr hohe Genauigkeit und Präzision, so dass Forscher die internen Mikrostrukturen einer Vielzahl von Materialien beobachten können. FEI CM200 verwendet einen hochauflösenden Sekundärelektronendetektor und ein Zeiss-bildgebendes Gerät, um hochauflösende und kontrastreiche Bilder zu erzeugen. Darüber hinaus ist das System in der Lage, eine Reaktionskammer zu verwenden, um grafisch zu erscheinen, zu ätzen und Materialien für die weitere Analyse abzuscheiden. Das Hauptmerkmal von PHILIPS CM 200 ist seine extrem hohe Auflösung. In Verbindung mit den Zeiss-Bildgebungssystemen kann die Bildauflösung 3000x besser als herkömmliche optische Mikroskope erreichen, sodass Forscher Strukturen im Nanoskalibereich untersuchen können. Die Detektionseinheit bietet ein Sichtfeld von über 1 Mikrometer, so dass Forscher Objekte mit einem hohen Detailgrad betrachten und bis zu 100.000x ihrer ursprünglichen Größe vergrößern können. Zusätzlich zu seinen hervorragenden bildgebenden Funktionen verfügt CM200 über eine Reihe von Funktionen, um die Probenanalyse zu erleichtern. Die Maschine ist in der Lage, den Spannungs- und Strahldruck der Primärelektronenkanone zu steuern, bietet Funktionen wie Kontrast/Verbesserung und kann eingestellt werden, um eine Vielzahl von hochauflösenden Abbildungsmodi einschließlich eines hochschärferen rückgestreuten Elektronen (BSE) Bildgebungsmodus für die Untersuchung von unberührten Oberflächen bereitzustellen. Es unterstützt auch eine breite Palette von Automatisierungswerkzeugen, um Forscher bei der Verwaltung ihrer Experimente zu unterstützen. PHILIPS/FEI CM 200 bietet eine Vielzahl von Vorteilen gegenüber anderen SEMs. Mit seinen hochauflösenden Bildgebungsfähigkeiten ermöglicht es Forschern, mikroskopische Objekte mit beispielloser Genauigkeit und Detailtreue zu untersuchen. Die automatisierten Werkzeuge bieten Forschern zudem eine größere Kontrolle über ihre Experimente. Das Werkzeug beinhaltet auch eine Reaktionskammer, die es Anwendern ermöglicht, Halbleiterbearbeitung und Abscheidung für weitere Analysen zu untersuchen. Insgesamt ist FEI CM 200 ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop, das Forschern ein unglaublich präzises Werkzeug zum Studieren von Materialien bietet. Die hohe Auflösung und das Spektrum automatisierter Funktionen machen es zu einer idealen Wahl für eine Vielzahl von Forschungsaufgaben.