Gebraucht PHILIPS / FEI CM200 #293774069 zu verkaufen

PHILIPS/FEI CM200 ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das in verschiedenen Forschungs- und Industrieanwendungen weit verbreitet ist. Mit seinen fortschrittlichen bildgebenden Funktionen und präzisen Analysewerkzeugen bietet FEI CM200 Forschern und Wissenschaftlern die Möglichkeit, eine breite Palette von Proben mit hoher Auflösung und Genauigkeit zu untersuchen. PHILIPS CM 200 ist mit einer Feldemissionskanone (FEG) -Elektronenquelle ausgestattet, die einen hochstabilen und intensiven Elektronenstrahl für die Bildgebung und Analyse liefert. Die FEG-Elektronenquelle bietet überlegene Helligkeit und Kohärenz, was zu einer verbesserten Bildauflösung und einem Signal-Rausch-Verhältnis im Vergleich zu herkömmlichen thermionischen Elektronenquellen führt. Dies ermöglicht PHILIPS CM200 eine hochauflösende Abbildung von Proben im Nanometermaßstab. Eines der Hauptmerkmale von PHILIPS/FEI CM 200 ist die hochauflösende Bildgebung. Mit einer maximalen Auflösung von 0,6 Nanometern bei 30 Kilovolt können CM200 detaillierte Bilder von Probenoberflächen mit außergewöhnlicher Klarheit und Präzision aufnehmen. Diese hohe Auflösung ist für die Untersuchung feiner Strukturen, der Oberflächenmorphologie und der elementaren Zusammensetzung verschiedener Materialien unerlässlich. Neben der Bildgebung verfügt CM 200 über eine Reihe von Analysewerkzeugen, die es Forschern ermöglichen, Proben detailliert zu charakterisieren und zu analysieren. FEI CM 200 ist zur energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDS) in der Lage, die in der Probe vorhandenen Elemente zu identifizieren und ihre Verteilung mit hoher räumlicher Auflösung abzubilden. Dies ist wertvoll für die Elementaranalyse, die Identifizierung von Verunreinigungen und die Untersuchung chemischer Zusammensetzungen von Materialien. Darüber hinaus verfügt PHILIPS/FEI CM200 über EBSD-Fähigkeiten (Electron Backscatter Diffraction), die Informationen über kristallographische Orientierungen, Korngrenzen und Phasentransformationen in Materialien liefern. EBSD ist eine leistungsstarke Technik zur Untersuchung der Mikrostruktur und mechanischen Eigenschaften von Materialien und ist damit ein wertvolles Werkzeug für die Materialwissenschaft und Metallurgieforschung. FEI CM200 bietet auch Elektronenstrahl-Lithographie (EBL) Fähigkeiten, so dass Forscher Nanostrukturen und Muster direkt auf Probenoberflächen herstellen können. Diese Funktion ist wesentlich für die Entwicklung fortschrittlicher Geräte und Komponenten in der Nanotechnologie und Halbleiterindustrie. PHILIPS CM 200 ist mit einer intuitiven Benutzeroberfläche und Software ausgestattet, die eine einfache Bedienung und Datenanalyse ermöglicht. Forscher können die Mikroskopparameter steuern, Bilder erfassen, Analysen durchführen und Berichte effizient über die Softwareschnittstelle erstellen. PHILIPS CM200 Software bietet auch fortschrittliche Bildverarbeitungswerkzeuge, wie Filterung, Messung und 3D-Rekonstruktion, um die Dateninterpretation und -visualisierung zu verbessern. Insgesamt ist PHILIPS/FEI CM 200 ein vielseitiges und leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop, das hochauflösende Bildgebung, präzise Analysefunktionen und erweiterte Funktionen für eine breite Palette von Forschungsanwendungen bietet. Mit seiner überlegenen Leistung und benutzerfreundlichen Oberfläche ist CM200 ein wesentliches Werkzeug für wissenschaftliche Studien in Materialwissenschaft, Nanotechnologie, Biologie, Geologie und vielen anderen Disziplinen.